如何在隐式表面上分布点,以将其更密集地集中在曲率较高的区域?
我考虑过根据曲率随机添加点并拒绝不需要的点,但是我想知道是否有更好的方法可以在相似曲率的区域上提供更均匀的分布,同时仍然提供较高曲率下所需的更高密度。曲率区域。
我正在专门研究将这些点用于曲面的三角测量,并且我不想创建更多的三角形,而不是需要相对平坦的零件。
这将应用于具有已知导数的形状,因此可以计算给定点的曲率。
这不必是实时方法。
如何在隐式表面上分布点,以将其更密集地集中在曲率较高的区域?
我考虑过根据曲率随机添加点并拒绝不需要的点,但是我想知道是否有更好的方法可以在相似曲率的区域上提供更均匀的分布,同时仍然提供较高曲率下所需的更高密度。曲率区域。
我正在专门研究将这些点用于曲面的三角测量,并且我不想创建更多的三角形,而不是需要相对平坦的零件。
这将应用于具有已知导数的形状,因此可以计算给定点的曲率。
这不必是实时方法。
Answers:
我将尝试应用的想法如下:我以曲线为例,但是对于曲面的应用应该很简单。
假设我们有一条均匀地参数化的曲线。假设曲线的参数为s。您的目标是对与s的值相对应的点进行采样,以使曲率较高。
如果获得曲率的大小,那么它也将是s的函数。因此,如果您标准化函数| c | ,您将获得概率分布。如果获得这种分布的积分,则将具有累积分布。我们将此累积函数称为C (s )。
由累积函数给出的分布中的采样问题是众所周知的,因此,基本上,一旦您对一组值进行采样,该值将与关注点相关。
该方法在表面情况下的应用应该是笔直的,因为基本上您具有二维累积分布函数,但是采样问题完全相同。
仅提供一些细节,鉴于累积函数涉及两个步骤,它基本上是从分布中采样:
采取在区间的随机值,让我们说ķ
求解方程。
这种方法是精确的,当然它很昂贵,但是如果您喜欢这种方法,则可以进行优化。
SIGGRAPH 1994年发表的经典论文《使用粒子采样并控制隐式表面》是一个很好的起点。
用基于物理的粒子系统对隐式对象进行采样 (Computers&Graphics,1996)一文中描述的简单粒子模拟也适用于曲面。有关示例,请参见“隐式曲面的动态纹理”。
有关最新示例,请参见隐式曲面的形状和色调描述(Computers&Graphics,2011)。