以后打出的痕迹的目的是什么？

我发现相机中FPC上的这个奇怪功能比处理按钮和开关输入要好。

您会看到一些痕迹，看起来就像它们曾经被连接起来，后来被冲切掉。左侧的快捷键曾经是一个按钮的快捷键，其效果与一直按下该按钮的效果相同。

在这里您可以看到其他涉及的组件。右侧的按钮是一个两阶段按钮，另一条迹线通向LED的阳极（是，阳极，而不是阴极）。

我从来没有见过这样的东西，那些痕迹被冲走之前是用来做什么的？那些通常用于测试电路部件吗？难道是后来必须解决的制造或布局错误？

实际上，如果仔细观察，您会发现许多这些孔将开关通道与它们的公共信号（接地或电源）相连。

因此，这只是在测试FPC本身的制造过程之前，先对其进行测试，然后再尝试将较大的开关放置在柔性基板上的昂贵过程。

经常发生FPC具有特殊的走线和技巧，以便能够通过其自身的边缘触点对其进行测试的情况，因为对柔性PCB进行弹簧探测本身就是一个噩梦。

我之前只见过两次钻孔/激光/打孔的方法，更常见的是它们使用特殊的痕迹，然后在最终用途中将其丢弃。造成其他各种混乱。

就是说，对于高端相机，他们当然会设置整个shebang，以便能够以正常方式可靠地探测整个FPC面板，因为这值得您付出初始成本。

编辑：

顺便说一句（最初忘记提及），因为所有这些连接都发生在“跟踪端”，这一点更加明显。开关跟踪通过的点。现在，乍一看这可能是一个巧合，但是如果您观察下降的地面走线，那么它旁边的那条走线可能也已连接到其他地方。一直循环的这种“设计努力”可能部分是为了节省孔的数量，但是很可能也是保证可以测试整个开关迹线的保证。

此外，我认为，更仔细地观察它，是在将刚性零件层压到其上之前测试弯曲度，因为您可以看到孔被其后面的刚性零件“塞住”了。

另一种可能性是在组装“较小”模型时禁用功能。因此，您可以将同一台PC或Flex电路用于一系列模型，并确定在制造过程中要实现的选项。

我想到两个原因：

1. 组装前测试（但我想不出这有什么用）。
2. 系紧可选开关。所有的中断都将相关走线连接到GND。如果添加了开关，则可以删除该链接。通常，上拉电阻会消除使CMOS输入保持悬空的风险，因此也许在上电复位时读取了开关状态，并且认为任何低电平都被忽略了吗？即，它允许通用固件检测其正在运行的硬件。