非常尖锐的探针尖端和万用表的快速连续性测试有什么实际好处?
我在google和ee.se中搜索了一段时间,但搜索结果主要包含带有尖头探针或类似特征的dmm seling广告。也许找不到正确的搜索关键字,但也找不到此处回答的问题。
在EEVblog中,戴夫·琼斯(Dave Jones)提到快速连续性测试的重要性的次数很少,但是仅以一次给出了以更快,更方便的方式来测试IC上多个引脚的示例。公平和方形,但仅适用于电子产品。那使雾散散了一些,但我记得我父亲的一个朋友在讲类似的话,我很确定他是电工。最重要的是,当时那个IC并不是那么多产。
尖端的锋利性,尽管接触面积较小,但我可以合理地认为,实际上可能会为您提供更好的机械接触,特别是如果探针在较软的金属上产生微小的凹痕时。易于穿透非常氧化的锡层或其他杂质。电流希望从尖锐的尖锐表面流露出更好且平坦的电流,但不确定如何在小于kV范围(U <30V)且没有电弧的情况下转化为实际电流。
除了(更好,更快,更敏锐,更强等)心理上的更好之外,还有我的心理观点更好吗?钝器有多钝,实际上尖器有多锐?如果存在实际差异,是否值得注意?是否可以量化?