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分压器需要以深度睡眠模式加入MCU,然后...这可以通过一个P沟道FET(例如)来实现...。当MCU唤醒时,它将需要测量电池电压,因此可以做的是打开在P沟道FET周围形成的电路,该电路将电池+ V连接到分压器:-
ADC输入如右图所示,除非MCU通过10k电阻激活BC547,否则不会有电压到达该输入。如果不激活,P沟道FET将关闭,并且实际上会断路。如果您可以对MCU进行编程以使其在睡眠时在其控制引脚上具有下拉电阻,那么应该在该点与地面之间添加另一个(例如)10k电阻器-这样可确保P沟道FET完全断开。
提醒一下,关闭时选择泄漏电流小的P通道FET,否则会稍微缩短电池寿命,但是大多数FET会低于100nA,许多在1nA左右。
最后一件事-当微型电源关闭时,稳压器如何在待机电流上发挥作用-您还需要照顾它吗?
当您只需要找出电池快要用完时(或在此之前发出警告)时,就不需要直接测量其电压。在电池达到其最低电压之前,稳压器的输出电压将降至3V以下。因此,您可以测量微控制器的电源电压。
根据其实际功能,您可以不使用分压器来执行此操作。例如,请查看PIC12F1822 的ADC数据手册(第141页):
PIC具有内部参考电压,并且可以测量其值(进入多路复用器的“ FVR缓冲器”)。但它也可以将电源电压用作ADC测量的参考(顶部的ADPREF选择器)。
鉴于此,人们可以简单地测量相对于电源电压的参考电压,并得到电源电压。对于12F1822,内部基准电压为2.048V,ADC具有10位分辨率。因此,当电源电压降至3.0V以下时,ADC结果将高于699:
甲dÇřË小号Ù升吨=1024*2.048V
注意,较低的电源电压意味着较高的ADC结果,因为输入电压和参考电压被交换为通常的方式。给定ADC结果,您可以将该公式转换为实际电源电压。
您真的需要线性稳压器吗?在满电池电压下运行µC会使事情变得容易得多。此外,即使在节电模式下,稳压器和µC也会始终消耗功率,从而不断消耗电池电量。查看数据表并牢记这一点。
因为(在普通采样保持ADC中,例如AVR µC中的)ADC输入仅在实际采样一个值时才吸收电流,所以可以通过简单地添加一个电容器来补偿瞬态低输入阻抗:
模拟该电路 –使用CircuitLab创建的原理图
当然,最大采样频率将受到这种方式的限制,因为在下一次采样完成之前,电容器将需要时间通过大电阻器重新充电,但是我想您无论如何都不会进行多于一次的测量。
可以通过改变电容器的容量和/或R1来设置电容器再充电所需的时间。R1越大=能量的“损失”越少+最大值越低。采样频率。对于给定的电阻器,较小的容量将更快充电,依此类推。
您将需要最大化R1的值,然后可能需要最小化C1的值以达到所需的采样频率。
最小容量取决于ADC将为样本抽取的电荷量,而电荷量又取决于ADC样本缓冲器的容量。对于AVR设备,我似乎记得该值是在数据手册中指定的。对于其他µC,我无法确定,但是图中的1µF在任何情况下都可能绰绰有余,并且可能会降低10倍左右。ADC的规格会告诉您。
编辑:
我在Atmel的ATmega1284p数据表中发现了这一点。S&H缓冲区的电容指定为14 微微法拉,因此C1 的几个毫微法拉就足够了。
例如,请参见此处的讨论。