Keil uVision MDK-Lite，STM32F072B-发现板和闪存API

我在STMicroelectronics STM32F072B-Disco“发现”板上使用MDK-Lite版本5.23，并且尝试使用发现示例提供的Flash示例。

我已将该板和工具链用于其他示例，并且对一些SPI和GPIO工作进行了编码。IDE就像冠军。但是，对于这个特定项目，我可以通过下载并使用“重置”按钮来构建代码并运行它。一旦使用HAL_FLASHEx_Erase（）例程，就无法在项目上使用调试器。一旦执行了该例程，IDE就会弹出一个对话框“无法访问目标。正在关闭调试会话”。

对于它的价值，我知道这不是编程错误，因为如果我下载代码，然后通过按复位按钮执行代码，它将起作用。我在TI板上使用了相同的调试器，它还能够对闪存进行编程并执行闪存例程。我敢肯定，我不会擦除闪存中存储代码的部分，所以不是那样。

如果我在main.c中跨过这一行

if (HAL_FLASHEx_Erase(&EraseInitStruct, &PageError) != HAL_OK)

然后它将删除调试会话。如果我改为进入同一行，然后逐步执行Flash擦除例程中的每个调用，则它将起作用并最终退出该例程，并且我可以调试其余代码。

我的猜测是，这在某种程度上与电源有关。要么是外部电源，要么是电源轨的板上开关。

为了澄清这种情况，在硬件重置后调试工作正常，但是当目标擦除闪存块时，调试连接是否断开？

调试并不关心代码是否正确运行-您可以处于锁定状态，并且停止调试应该仍然有效。在CPU端唯一无法调试的是死锁的AHB访问。这意味着问题出在STM32F7与板载USB-SWD接口芯片（我也是STM32）之间的SWD接口。该设备具有一些板载电源导轨开关，这使我第一次使用该板时感到困惑。

值得注意的是，闪存擦除会增加设备的电流消耗-您的外部PSU是否可以胜任工作，您可以使用替代方法吗？

编辑：根据您的反馈，单步执行相关代码会导致调试器崩溃，而单步执行则不会，我认为您的问题与此问题有关。

通过使用断点（和轮询暂停状态）来实现跨步，而硬件中支持单步。这仍然不能解释为什么调试器似乎会感到困惑，但是确实允许调试器在Flash控制器处于活动状态时尝试访问代码（从Flash）。

根据这些观察结果，建议您在擦除后设置一个断点，并尝试避免触发这种情况。