什么是首席射线角（CRA）？

我想为特定应用选择图像传感器。
我经常在他们的数据表中经常遇到的一个术语是CRA。我正在比较2个图像传感器，尽管它们具有相似的分辨率（就MegaPixel而言），但CRA有所不同。

我想知道的是：

1. 有什么权威文献可以向我解释什么是CRA？
2. CRA的含义是什么？它将产生什么影响？

我不是光学专家，但这与入射光的角度有关，这些入射光穿过孔径的中心。在具有很小孔径的针孔照相机中，到达像平面的唯一光线将是主光线或主光线。

CRA的几个定义：

• http://en.wikipedia.org/wiki/Ray_%28optics%29#Optical_systems
• http://www.trioptics.com/knowledgebase/chief_ray_angle_cra.php

主光线角是镜头的属性，而不是传感器的属性，但是我认为数据表所指的是可以获取良好读数的最大CRA。如果光线太倾斜地照射数字传感器，则强度和色移会出现问题。当镜头后部非常靠近传感器时（例如在测距仪或无反光镜的大型传感器数码相机中），往往会发生这种情况。看到：

• http://diglloyd.com/articles/LeicaM/LeicaM-RayAngle.html

对于图像传感器，CRA与微透镜的定位有关。0 Deg CRA表示微透镜位于像素的正中央。增大的CRA通常用于小型光学解决方案，例如手机相机。我进行了快速搜索，发现此文档对其进行了很好的解释。

http://space.ednchina.com/Upload/2009/9/8/b1a17f54-0639-4644-b9ad-8681931f128f.pdf

如FGR的文章所述，CRA为0的传感器没有对像素微透镜施加偏移。CRA为X的传感器将微透镜位移应用于阵列中的远处像素，该位移旨在将广角镜与匹配的CRA相匹配。

在正面照明（FSI）传感器中，CRA不匹配将导致边缘像素的损耗，该损耗与距中心的距离成比例，并且与CRA不匹配成比例。这些损失是由于像素内部的光线被像素内部的金属迹线阻挡或反射而造成的。

背面照明（BSI）传感器较不容易受到此CRA不匹配损失的影响，因为像素内的金属走线位于光子收集层的后面。从理论上讲，由于光线完全丢失了该层，或者在高CRA不匹配的情况下，相邻像素的渗漏加剧，它们可能仍然会造成损失。