如何测试存储卡的性能和坏扇区？

我刚刚为DSLR购买了新的CF卡。我使用Xbench（Mac OS X）对其进行了测试，并且其性能符合预期。但是，我想执行“表面扫描”（移动拼盘术语）以检查“坏扇区”（移动拼盘术语）。我可以使用dd来bash一个进程的脚本，但是我感觉有更好的方法。我的目标是最终确定照片中可以安全使用存储卡（CF，SD等），并且在30天供应商策略窗口到期之前不需要将其退还。

我绝对希望这里提供Mac解决方案。我还想得到一些Linux建议。让我们甚至向Windows用户投掷骨头，以便这个问题可以满足每个人的需求。

由于控制器可以将块移动到任意位置（请参阅损耗平衡），因此整个读/写测试人员将磁盘装满然后进行比较是唯一的机会。当然要用不同的模式多次。

而且，您仍然不会发现有问题的区域，因为只要有空位，控制器也会将它们隐藏起来。

闪存的工作方式与带有磁盘的磁盘不同。闪存实际上并不存在“坏扇区”的概念。如今，借助闪存和SSD，内置控制器负责识别和标记不可用的内存块，动态移动数据以减轻块写入限制等。这些功能在SSD中更为普遍，但有些功能存在于优质闪存卡（如SanDisk）中。

大多数文件系统检查工具要么对存储设备的物理结构做出特定假设（即基于磁盘，具有物理柱面，扇区，集群等），要么在抽象级别工作并使用文件或目录“虚拟”进行修复表。您将需要专门设计用于标记闪存设备上坏块的工具，因为其他任何事情都可能导致更多问题（假设它可以像使用基于磁盘的设备一样解决问题）或进行虚拟化不考虑闪存的动态硬件级功能的修复程序。即使您可以将特定的“扇区”或“集群”标记为“不良”，也不一定有好处，因为这些物理概念实际上并不存在于闪存中。如果闪存设备更高级，并且动态地移动数据以自动绕过坏块并减轻写入限制，则数据的物理位置可能会暂时驻留在坏块中，稍后再驻留在好块中。（请注意，闪存中的“坏”块的想法比磁盘大得多，更模糊了……闪存块倾向于缓慢死亡，而不是突然死亡，并且可能在可读/不可读之间“闪烁”。完全无法使用之前）。

一般而言，谈到闪存时，请让设备从坏块的角度进行管理。不同的制造商以不同的方式构造和存储数据，并且每个制造商可能具有不同级别和数量的动态行为，这些动态行为会移动数据以避免闪存的某些限制。自己尝试对其进行管理可能会导致超出解决方案的问题，并且从长远来看可能会使您的闪存盘无用。

如果您希望避免闪存卡损坏，我强烈建议您使用信誉良好的品牌。我过去曾尝试过各种闪存卡，但是SanDisk是我使用过的唯一一个品牌，至少到目前为止，它从未失败过。我有几张4、8和16 Gb SDHC卡，这些卡我经常使用，并且经常从相机中取出并插入笔记本电脑或计算机中，但它们仍能正常工作。（有些已经几岁了。）

在Linux中，所需的命令是badblocks。作为ext2-for-os-x端口的一部分，Mac OS X似乎有一个端口-安装整个程序并忽略/usr/local/sbin/badblocks命令以外的所有内容。

话虽如此，这将有助于测试，但我认为这不会是结论性的，因为首先，正如列奥尼达斯所说，您并没有真正获得对闪存的原始访问权限，因此很难进行完整的扫描，而且还因为测试后可能会出现新的故障，甚至可能由测试触发。

阅读问题下方的评论，我相信F3确实可以满足您的需求。它可以在Linux / Mac OS X上编译，也可以通过Homebrew获得。

我在Google上发现了这个问题，但我并没有使用SD卡存储相机，而是在不到2年的三星银河S2上使用完了10类32个演出的Sdhc Sandisk完全损坏了。

我正在使用Badblocks来查看第一个Badblocks的起始位置，然后，如果可能的话，将在该区域进行分区。这是我目前非常非常糟糕的解决方案：/