使用SMART明智吗?


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几年前,我被告知要像瘟疫一样避免SMART。原因是测试对驱动器施加的压力实际上会导致驱动器发生故障。

还是这样吗?如果没有,运行测试的合理频率是多少?如果仍然应该避免这种情况,那么监视硬盘驱动器运行状况的更好方法是什么?

Answers:


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虽然SMART当然不能预测所有故障,但我在一家计算机维修店工作了几年,而且多次SMART错误消息是第一个表明即将发生故障的信息,使我可以在驱动器之前保存客户的数据死了

该技术本身并不会给驱动器带来压力,它只是跟踪许多可能导致驱动器故障的指标(此处的完整列表:http : //en.wikipedia.org/wiki/SMART),例如:

  • 读取错误率
  • 重新分配的部门数
  • 旋转重试计数
  • 不可纠正的扇区数
  • 开机时间

SMART的性能影响可忽略不计,不会给驱动器造成压力(监视是被动的),并且可能警告您即将丢失所有孩子的照片(或MP3集合或硬盘上的重要内容) )。

简而言之,请保留它。


我认为原始发布者被告知可以通过SMART(手动运行“长”测试)进行主动表面测试的危险。如您所说,总线默认情况下是SMART被动的,应始终启用。就个人而言,我还每月在驱动器上运行一次主动测试。
科拉斯·纳哈布

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除了被动记录性能计数器和事件之外,SMART还提供了一个界面,用于启动驱动器执行的几种类型的自检,并在以后获取其结果。

其中一些测试涉及在保持在线状态并响应主机请求时扫描整个磁盘表面,因此沉重的I / O将导致大量头部脱粒。

我想后者是您被告知的严重误解的根源。SMART很好。


-6

不久前,谷歌进行了一项研究(PDF)“ 大量磁盘驱动器中的故障趋势 ”。他们使用了大量的驱动器,研究表明:

我们的分析从驱动器的自我监视工具(SMART)中识别出与故障高度相关的几个参数。尽管相关性很高,但我们得出的结论是,仅基于SMART参数的模型不太可能对预测单个驱动器故障有用。令人惊讶的是,我们发现温度和活动水平与驱动器故障的相关性比以前报道的要少得多。

因此,温度是驱动器承受压力的重要因素。再加上此新驱动器中始终发生的所有错误校正,因此增加了更多压力,您无法控制。如果您正在寻找一种工具来对驱动器进行维护(或恢复),则建议您使用SpinRite。它是史蒂夫·吉布森(Steve Gibson)创作的,它的产品令人赞叹。


3
您的参考文献不是说温度与驱动故障无关吗?...但是您认为这是“更大的因素”吗?请澄清您的意思
迈克尔·哈伦

我读错了吗?它说温度与驱动器故障没有密切关系,对吗?根据该论文,活动也不是。
MrChrister

1
“因此,温度是驱动器承受的压力要大得多的因素。” -您从哪里得出结论?您引用的段落说温度没有很高的相关性。
乔·菲利普斯

3
-1不仅是因为无法正确阅读论文摘要,而且还因为没有花时间阅读全文。驱动器故障通常可以归结为制造缺陷(如图3所示:前3个月的高使用率消除了组件错误-由于使用引起的故障开始趋于收敛之后)或随着时间的推移而退化。随着时间的推移,降解将是SMART的目标。图5显示温度根本不是一个很大的因素-实际上,该报告表明,较凉的驱动器比运行热的驱动器更有可能发生故障变化,肯定是在头三年内。
伊恩(Ian)2009年
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