TL; DR
最重要的数字在前：健康记忆的错误计数应为0。大于0的任何数字都可能表示扇区损坏/故障。
屏幕说明
Memtest86+ v1.00 | Progress of the entire pass (test series)
CPU MODEL and clock speed | Progress of individual, current test
Level 1 cache size & speed | Test type that is currently running
Level 2 cache size & speed | Part of the RAM (sector) that is being tested
RAM size and testing speed | Pattern that is being written to the sector
Information about the chipset that your mainboard uses
Information about your RAM set-up, clock speed, channel settings, etc.
WallTime Cached RsvdMem MemMap Cache ECC Test Pass Errors ECC Errs
--------- ------ ------- -------- ----- --- ---- ---- ------ --------
Elapsed Amount Amount Mapping on on Test # of # of # of ECC
time of RAM of used or or type pass errors errors
cached reserved off off done found found
RAM, not
tested
数据/测试说明
MemTest运行许多测试，将特定的模式写入内存的每个扇区并进行检索。如果检索到的数据与最初存储的数据不同，则MemTest会记录一个错误并将错误计数增加一。错误通常是RAM条损坏的迹象。
由于内存不仅是保存信息的记事本，而且还具有诸如缓存之类的高级功能，因此需要进行多种测试。这就是Test #指示。MemTest运行许多不同的测试以查看是否发生错误。
一些（简化的）测试示例：
- 按以下顺序测试扇区：A，B，C，D，E，F。（串行）
- 按以下顺序测试扇区：A，C，E，B，D，F。（移动）
- 用模式填充所有扇区：aaaaaaaa
- 用随机模式填充所有扇区。
有关所有测试的更详细说明，请访问：https : //www.memtest86.com/technical.htm#detailed
测试0 [地址测试，步行测试，无缓存]
使用步进地址模式测试所有存储库中的所有地址位。
测试1 [地址测试，自己的地址，顺序]
每个地址都写入自己的地址，然后检查其一致性。从理论上讲，以前的测试应该可以解决所有内存问题。此测试应捕获以前未检测到的任何寻址错误。该测试是对每个可用CPU依次进行的。
测试2 [地址测试，自己的地址，并行]
与测试1相同，但测试使用所有CPU并使用重叠的地址并行进行。
测试3 [移动反演，一和零，顺序]
该测试使用具有全1和全0模式的移动反演算法。即使在某种程度上干扰了测试算法，也会启用缓存。启用缓存后，此测试不会花费很长时间，并且应该会迅速找到所有“硬”错误以及一些更细微的错误。此测试只是快速检查。该测试是对每个可用CPU依次进行的。
测试4 [移动反演，一和零，并行
与测试3相同，但测试使用所有CPU并行进行。
测试5 [移动反演，8位拍拍]
这与测试4相同，但是使用8位宽的“游走” 1和0模式。该测试将更好地检测“宽”存储芯片中的细微错误。
测试6 [移动反演，随机模式]
测试6使用与测试4相同的算法，但是数据模式是一个随机数并且是补码。该测试对于发现难以检测的数据敏感错误特别有效。每次通过的随机数序列都不同，因此多次通过可提高有效性。
测试7 [整步，64步]
该测试通过使用块移动（movsl）指令对内存进行压力测试，该测试基于Robert Redelmeier的burnBX测试。使用每8个字节反转一次的移位模式来初始化内存。然后使用movsl指令移动4mb的内存块。移动完成后，将检查数据模式。由于仅在内存移动完成后才检查数据，因此无法知道错误发生在何处。报告的地址仅适用于发现错误模式的位置。由于移动被限制在一个8mb的内存段中，因此失败的地址将始终与所报告的地址相距小于8mb。此测试的错误不用于计算BadRAM模式。
测试8 [移动反转，32位pat]
这是移动反演算法的一种变体，该算法针对每个连续地址将数据模式左移一位。每次通过时，起始位位置向左移动。为了使用所有可能的数据模式，需要32次通过。该测试对于检测数据敏感错误非常有效，但是执行时间很长。
测试9 [随机数顺序]
该测试将一系列随机数写入内存。通过为随机数重置种子，可以创建相同的数字序列作为参考。检查初始模式，然后进行补充，并在下一遍再次检查。但是，与移动反转不同，测试编写和检查只能在正向进行。
测试10 [模20，1和0]
使用Modulo-X算法应该发现由于算法的缓存和缓冲干扰而无法通过移动反演检测到的错误。与测试一样，数据模式仅使用一和零。
测试11 [位衰落测试，90分钟，2种模式]
位淡入淡出测试会使用一种模式初始化所有内存，然后休眠5分钟。然后检查内存以查看是否有任何内存位已更改。使用全1和全0模式。
由于坏扇区有时可能会工作，而下次又无法工作，因此我建议让MemTest运行几次。完全通过是已通过的完整测试系列。（上述测试系列1-11）您获得的通过次数越多而没有错误，则MemTest的运行越准确。我通常会跑5遍才能确定。
健康内存的错误计数应为0。大于0的任何数字都可能表示扇区损坏/出现故障。
仅当ECC设置为时，才应考虑ECC错误计数off。ECC代表纠错代码存储器，它是一种用于检测和纠正存储器状态中错误位的机制。可以将其与在RAID或光学介质上进行的奇偶校验进行比较。该技术非常昂贵，可能仅在服务器设置中会遇到。ECC计数用于计算内存的ECC机制已纠正的错误数。不需要为健康的RAM调用ECC，因此ECC错误计数大于0也可能表示内存不足。
错误说明
遇到错误的Memtest示例。它显示哪个扇区/地址发生故障。
第一列（Tst）显示哪个测试失败，该编号对应于上面已经提到的列表中的测试编号。第二列（通过）显示该测试是否通过。在该示例的情况下，测试7没有通过。
第三列（失败地址）准确显示了内存的哪一部分有错误。该部分具有一个地址，非常类似于IP地址，该地址对于该数据存储段是唯一的。它显示了哪个地址失败以及数据块的大小。（示例中为0.8MB）
第四列（良好）和第五列（不良）分别显示了写入的数据和检索到的数据。这两列在无故障内存中应该相等（很明显）。
第六列（Err-Bits）显示发生故障的确切位的位置。
第七列（Count）显示具有相同地址和失败位的连续错误数。
最后，最后第七列（Chan）显示内存条所在的通道（如果系统上使用了多个通道）。
如果发现错误
如果MemTest发现任何错误，则此超级用户问题及其公认的答案将涵盖确定哪个模块有故障的最佳方法：
使用消除的过程-移除一半的模块并再次运行测试...
如果没有故障，那么您就知道这两个模块是好的，请将它们放在一边并再次进行测试。
如果出现故障，请再次减少一半（现在减少至四个内存模块之一），然后再次进行测试。
但是，仅因为一个测试失败，就不要假设另一个测试也没有失败（您可能有两个发生故障的内存模块）-在您检测到两个内存模块发生故障的情况下，请分别测试这两个内存模块。
重要说明：由于某些功能，例如某些主板供应商的内存交错和不良的内存模块插槽编号方案，可能很难知道给定地址代表哪个模块。
