badblocks与SMART扩展自测

“坏块”进行的完整读/写表面扫描与内置的SMART Extended自检有何区别？

似乎它们都是全盘扫描，为什么要花badblocks -vws3天的时间来测试1TB驱动器，而SMART却需要2 1/2小时（至少那是smartmon给我的时间估计）？

SMART表面测试几乎可以肯定是一次读取，并且肯定是非破坏性的。如前所述，它也位于驱动器内部。除次要控制数据外，在测试过程中不会向主机传递任何数据。

另一方面，badblocks -w在驱动器上进行四次传递，每次传递一次写入和一次读取。仅此一项就占了测试时间的8倍差异，加上旋转等待时间。由于它是在主机上运行的软件，因此所有数据都需要通过磁盘接口连接到RAM并由软件处理（在我们的示例中为坏块）。

如果我们将最坏情况下的旋转延迟设为1倍（磁盘在写入数据后需要旋转一整圈才能读取回去，这几乎就像您会看到坏块先填满整个块一样磁盘，然后全部读回，而不是一次只进行一次I / O物理跟踪（使用LBA几乎不可能），我们最终会遇到最坏的情况（1 + 1）×8×= 16×完成操作。16×2.5h = 40h，这当然与您的数字一致，并且仍然假设我们只处理驱动器上的数据存储，并且发生速度与驱动器可以支持顺序I / O一样快。

SMART短期和长期测试仅对扇区执行（本地化）读取。这对数据也没有破坏性。读取的数据仅传输到板载控制器，而不传输到主机PC。在测试过程中，SATA接口实际上处于空闲状态，并且PC上的HDD活动指示灯不应亮起。

badblocks -vws正在请求写入扇区，然后进行读取和验证操作。每次写入和读取都会增加每次操作的磁盘转数，以及通过SATA接口进行数据传输的时间以及主机PC的处理时间。HDD活动指示灯在大多数时候都应亮着。

https://wiki.archlinux.org/index.php/badblocks#Comparisons_with_Other_Programs

需要注意的是，一些制造商的测试程序不能打印完整的测试结果，并且允许一定数量的坏扇区仅在通过或不通过时才说出来。但是，制造商程序通常比坏块要快，有时也要快很多。

因此，尽可能使用badblocks的破坏性彻底测试。

编辑：具有破坏性，我的意思是许多现代硬盘驱动器的年工作负载为180TB /年，也就是说，在12TB的高清硬盘上，如果要运行全套的坏块测试以进行测试，则您将承担96TB的工作负载。如果按工作负载，它们仅表示写入，则可能为48TB，可能是这种情况，但没有充分记录。