我现在正在整理电气工程方面的文献,以可靠地生产高度复杂但又非常脆弱的系统所采用的各种策略,例如DRAM,其中有成千上万个组件,而且单个故障会使整个系统变砖。
似乎采用的常见策略是制造更大的系统,然后使用可设置的保险丝有选择地禁用损坏的行/列。我已经读到[1](截至2008年),没有DRAM模块脱机运行,并且对于具有1GB DDR3模块的所有维修技术,总良率从约0%增至约70% 。
但是,这只是一个数据点。我想知道的是,这是在现场广告吗?与SoA相比,是否有体面的资源可以讨论产量的提高?我有这样的消息来源[2],他们在讨论第一性原理推理的收益方面做得不错,但是那是1991年,我想/希望现在情况会好一些。
此外,即使在今天,是否仍在使用冗余行/列?这种冗余技术需要多少额外的电路板空间?
我也一直在寻找其他并行系统,例如TFT显示器。一位同事提到,三星曾一度发现制造破碎的显示器然后修理它们更便宜,而不是将其过程提高到可接受的产量。但是,我还没有找到一个不错的消息来源。
参考
[1]:Gutmann,Ronald J等。晶圆级3-d Ics制程技术。纽约:施普林格,2008年。[2]:Horiguchi,Masahi等。“一种用于高密度DRAM的灵活冗余技术。” 固态电路,IEEE Journal of 26.1(1991):12-17。