我正在开发一种电路，用作电子基准测试电源。关于如何测试该电路的更早问题得到了几个非常有用的答案，可以在这里找到：如何测试运放的稳定性？。这个问题是关于如何解释我的模拟和测试结果的。
这是在实验板上进行仿真和测试的电路原理图：
LTSpice产生的图表明电路相当稳定。5V上升存在一个1mV的过冲，可在一个周期内消除。如果不进行大量放大，几乎看不到它。
这是使用电路板上的示波器进行的同一测试的快照。电压上升小得多，周期更长，但是测试是相同的；将方波馈入运算放大器的同相（+）输入。
如您所见，存在明显的过冲，可能是20％，然后在高信号持续时间内呈指数衰减到稳定振荡，并且在下降时出现一些轻微的过冲。低信号的高度仅为本底噪声（约8mv）。这与电路关闭时相同。
这是实验板构建的样子：
MOSFET在散热器的顶部，通过黄色，红色和黑色导线连接。栅极，漏极和源极。通往小型原型板的红色和黑色电线分别为IN +和IN-，连接至面包板香蕉插孔，以避免功率电平电流通过面包板。测试中加载的电源是密封铅酸（SLA）电池，以避免电源本身出现任何不稳定情况。银跳线是从我的函数发生器中注入方波的地方。左下方的电阻器，二极管等是手动（基于电位计）负载水平设置子电路的一部分，未连接。
我的主要问题是：为什么LTSpice不能预测这种严重的不稳定性？如果这样做的话，将非常方便，因为这样我就可以模拟我的薪酬网络了。就目前而言，我只需要插入一堆不同的值并重新测试即可。
我的主要假设是，IRF540N的栅极电容未在SPICE模型中建模，而我正在驱动一个约2nF的电容性负载，这并未考虑在内。我认为这是不对的，因为我发现模型（http://www.irf.com/product-info/models/SPICE/irf540n.spi）中的电容看起来是正确的数量级。
有什么方法可以使仿真预测这种不稳定性，以便还可以调整补偿网络值？
结果报告：
好的，事实证明，我为LM358运算放大器使用的LTspice模型很旧，并且不够复杂，无法正确地对频率响应进行建模。由National Semi更新到相对较新的版本并不能预测振荡，但是清楚地显示出20％的超调，这给了我一些帮助。我还更改了脉冲峰值电压以匹配面包板测试，这使得过冲更容易看到：
基于这种“反馈”，我从一致推荐的补偿方法开始，我认为这是支配极点补偿的一个例子。我不确定栅极电阻器是该电阻器的一部分还是第二种补偿方案，但这对我来说至关重要。经过大量的反复试验后，得出以下这些值：
这产生了一个非常稳定的波形，尽管我想尽可能使上升和下降的幅度更大一些，以便更好地测试将在此负载下测试的电源的频率响应。我会稍后处理。
然后，我在面包板上使用了新值，瞧，我明白了：
我对此很激动：)
尤其是由于要适应新组件，我使面包板寄生虫变得更糟而不是变得更好：
无论如何，这个愉快的结局，希望对其他在搜索中找到它的人有所帮助。我知道我会撕掉剩下的那只小头发，试图通过将不同的组件插入面包板来调入这些值：)