如何确定/评估非常长的组件寿命索赔？

它是家用设备（例如灯泡）的通用规范。但是，我无法弄清楚如果不在指定的时间内运行设备，您将如何真正评估/证明此类索赔。

考虑一个据说使用寿命为9000小时的灯泡。如果要对此进行测试，我想真正进行测量的唯一方法就是让灯泡运行9000个小时，大约一年！

如果一年的时间不够长，请考虑额定使用50,000小时的某些LED灯泡！

显然，长时间进行测试是不可行的。所以我想我在问；这些主张是基于什么依据？

可能的一种测试方法是在高于正常运行条件的条件下对组件施加压力，以使它更快地燃尽，然后以某种方式基于测量结果创建预测。或者，也许要在一段时间内（短时间内）运行组件，并测量其劣化/老化程度，并以此来进行预测。

其中一种方法可能是您预期的那样，是加速老化的方法。当产品的使用寿命太长而无法进行正常的寿命测试（例如LED，其MTBF可能超过100,000小时）时，可以使用此功能。在这里，人们强调测试项目超出了它在“现场”所能接收到的范围，从而缩短了使用寿命，可以从中推断出数据。

使用加速时效的主要考虑因素是在部件建议的工作范围之外工作的非线性影响。这可以用机械系统来说明，例如以45,000 rpm（而不是15,000 rpm）运行齿轮箱，并将数据外推三倍。但是，假设您正在测试灯泡。常识说，以两倍于当前的电流运行将使它运行一半的时间。但是，由于这些非线性效应，您可能会发现寿命仅是在适当电流下的寿命的1/4，这是由于过高额定值带来的额外应力所致。一个重要的考虑因素是，在执行测试之前，应对测试设备/受试者/项目的预期和非预期工作范围行为进行充分表征。

因此，在各个领域对加速老化测试进行了各种改进（许多）研究（很多）。LED浮现在脑海；光电是另一种。

如您所知，寿命等级通常涉及在比规范允许的条件更严格的条件下进行测试。然后，可以使用数学模型-可以从经验上得出或从理论上推导得出-将测试到失效的时间映射到一组实际条件。在半导体器件中，一个众所周知的“定律”是布莱克方程，而通用技术称为HTOL测试。就像您可能想象的那样，要确定加速测试的有效性可能很困难，有些工程师建议您将得出的结果与一小撮盐结合起来。在半导体行业中，已经创建了许多标准并正在不断发展。

我想您基本上回答了您的问题。取决于技术，测试用例和估计寿命的协议当然会有所不同，但是总的来说，它们会测量降级到一定百分比并根据特定于该技术的协议来估计总寿命。我发现这与您提到的LED寿命估算有关：http : //apps1.eere.energy.gov/buildings/publications/pdfs/ssl/lifetime_white_leds.pdf 希望对您有所帮助。