电容器数据表中泄漏电流的“ CV”单位是多少？

我看了一些电解电容器的泄漏电流规格，它们似乎都将值指定为如下形式：

2分钟后I <0.01 CV或3（μA），以较大者为准

以下是一些示例数据表：Panasonic，Multicomp，Nichicon和Rubycon。

我认为泄漏电流是电容和电压的乘积是正确的，即对于5V电源上的100µF电容，我会发现泄漏电流为。$I = 0.01\times100µF\times5V=5\times10^{-6}A = 5µA$

还是那个简历单位完全不同？

另外，当电容器通常在几秒钟或更短的时间内充电时，为何此额定值会长时间延迟？

在这种情况下0.01CV（或3所述的泄漏规格- A）是产品的额定电压和额定电容，不施加电压。当然，3 A表示“以较高者为准”（又称“较差”）。因此，如果您的电容额定值为10V / 100 F，则泄漏电流将小于10。$\mu$$\mu$$\mu$$\mu$

SP数据表解释的规则＃1是：

如果一个规范可以用两种方法来解释，并且一种方法比另一种方法差，那么最差的一种方法就是正确的方法。

电解盖的实际泄漏量可能远小于额定值或略低。机会是一个较高额定电压电容器时以比额定电压低得多的操作将具有较低的泄漏，但它不能保证，也不会必然最后如果电容器被连续地以比额定电压低操作。

当然，（相对）较长的时间是因为初始泄漏可能会比规格高很多，并且可能需要一些时间才能降至保证值。这是因为电解盖中的电介质实际上是蚀刻后的铝板上非常薄的氧化物层，并且会形成针孔等，并在施加电压时将其阳极氧化。

这是United Chemicon关于泄漏的评价：

漏电流（DCL）

电容器的电介质具有很高的电阻，可防止直流电流的流动。但是，电介质中有一些区域允许少量电流通过，称为泄漏电流。允许流动的区域是由于很小的箔杂质位不均匀造成的，在这些杂质上形成的电介质不会产生牢固的结合。当电容器暴露于高直流电压或高温下时，这些键断开，漏电流增加。漏电流还取决于以下因素：

1. 电容值
2. 施加电压与额定电压
3. 以前的历史

泄漏电流与电容成正比，并且随着施加电压的减小而减小。如果电容器一直处于高温状态，而长时间未施加电压，则氧化物电介质可能会发生某些降解，这将导致更高的泄漏电流。通常，重新施加电压后，可以修复这种损坏

这种类型的强大“成型”效果在现代零件中相对较少见，并且在过去的日子里，零件在使用之前已经放置了一段时间，这种情况似乎更常见。也许现代电解质可以得到更好的控制或更纯净，或者具有防腐添加剂。

编辑：注意@Dave的注释，0.01参数的单位必须为1 / s。

泄漏电流取决于极板的面积（因此与电容成正比），或者与极板间距成反比（因此与电容成正比）以及所施加的电压，因此，泄漏电流与CV成正比。

电解电容器具有有趣的“长时间常数”，这与极板处的机械运动以及电解质中的极化效应有关。最有效的方法是对一个大的电解电容器充电，放置几分钟，快速放电，然后在接下来的几分钟内使用高阻抗DVM观察其电压。电压从0开始上升，并可能达到原始充电电压的惊人比例。如果只是为了证明电解电容器的非理想性，该电压恢复实验是值得做的。

这意味着，如果我们试图测量大型电解槽中的低泄漏电流，则电压变化后，电压恢复的影响将淹没该泄漏电流。因此，规定的2分钟延迟，制造商大概已经发现，该延迟足以消除电压恢复，这是造成测量误差的重要原因。