您的建议是可能的,但是您必须了解一些陷阱。最大的问题是晶体管不使测量失真。您没有给出任何精度要求,但可以说它是10位A / D,并且您不希望晶体管添加超过1个错误计数。在3.3 V标度上,一个10位A / D的计数为3.2 mV。在两个电阻相等的情况下,晶体管的压降不能超过6.5 mV。这完全排除了双极晶体管。
AP通道FET可以做到这一点。同样,如果您希望晶体管的误差不超过0.1%,则当两个电阻相等时,其误差必须小于200mΩ,在最坏的情况下,误差应小于200mΩ。
可以找到100mΩ的P沟道FET,但是N沟道FET更丰富并且具有更好的特性,尤其是在这些低电压下。我会改用N通道低压侧开关:
仅在2.5 V栅极驱动下,IRLML2502保证最大为80mΩ,因此误差很小。如果需要低得多的误差,则除了分压器之外,您还可以测量R2的底部,然后可以在固件中解决开关两端的压降问题。
添加:
您现在已经说出您确实在使用桥接电路,从而改变了问题。当要通过模拟仪表的运动来显示测量值时,这是有意义的,但在使用现代微控制器时则不必要。对于普通的微控制器A / D,由于A / D结果与电源范围成比例,因此您已经有了一个桥梁。实际上,桥接器的另一侧内置在微型计算机中。使用另一个外部电桥和第二个A / D输入只会增加错误。如果分压器的电压精度为0.1%,则可以使用上面的电路。
一些微控制器具有单独的负A / D电压基准线。例如,这在Microchip PIC线上称为Vref-。您可以从R2的底部驱动Vref-来忽略Q1两端的电压。但是,请检查Vref引脚的有效范围。可能不允许它升高到Vdd。实际上,这是一种情况,您可以使用绝对最大额定值代替运行值。当传感器电路关闭时,您只在乎A / D不会被损坏,也不在意它是否正常工作。当然,如果您将A / D用于其他用途,则此方案将不起作用。
有关桥接的更多信息:
已经提出,在这种情况下,“电桥”电路更好,并且可以抵消上述电路中Q1引起的任何电压下降。事实并非如此,至少我对“电桥”电路的解释不是这样。我认为这是打算连接桥的方式:
R1是被测量的可变电阻传感器。R2,R3和R4是具有已知值的固定电阻器。SW1是不使用时用来关闭该电路的开关,以节省功率。进行测量时,SW1关闭。在此示意图中,SW1被认为是理想的开关,R5单独显示以代表其导通电阻。
桥接电路的目的是在V1和V2之间提供差分电压。当仪表需要大量电流并且可以直接连接在V1和V2之间时,这在老式模拟仪表中很有用。注意,电压V1-V2仍然与Vdd成比例。这个电路不是与Vdd无关,因此与由R5电流引起的电源电压的明显误差无关。电桥电路仅在一种情况下与Vdd无关,也就是说,当V1-V2为零时。这就是为什么使用桥式电路的老式模拟仪表将它们与精密校准变量R3结合在一起的原因。您不会将仪表上显示的V1-V2的测量值用作直接测量值,而是将R3设置为V1-V2为零的反馈。在这种情况下,Vdd无关紧要,V1和V2之间的电表阻抗也无关紧要。
今天我们在这里使用微控制器A / D输入的情况完全不同。这些A / D并未设置用于差分测量,而且我们也没有校准的可靠方式来改变R3。但是,我们可以对GND至Vdd范围进行相当精确的电压测量。
如果R5为0,则V1处的电压将与Vdd之比仅取决于R1。由于微控制器中的传感器电路和A / D都产生并测量相对于GND至Vdd范围的电压,因此该范围的精确值被抵消了。
唯一的问题是R5不为零且在某个范围内未知。即使相对于Vdd范围,这也会给V1添加未知错误。实际上,传感器产生的电压是Vlow到Vdd范围的固定分数,而微型仪器则将其测量为GND到Vdd的固定分数。解决此问题的最简单方法是确保Vlow是Vdd的足够小部分,以便可以忽略此错误。
使用桥接电路的建议显然是为了使同时测量V1和V2可以消除该误差。如果R3和R4是众所周知的,则V2是Vlow的直接函数,但会被R4,R3分频器衰减。可以高精度测量V2,推断出Vlow,并将结果用于校正V1读数。但是,R4,R3分频器没有任何优势。如果需要校正Vlow,最好直接进行测量。 在任何情况下,测量V2都不比直接测量Vlow好。由于我们最好测量Vlow,因此不需要V2,因此生产V2没有意义。因此,R3和R4可以省去,没有留下任何可以称为“桥”电路的东西。