是的，那是a句。（编辑：修复它...现在实际上是Haiku）
不，我不是在微笑。
我正在做一些标准测试；看看当我设计的PCB上的两个电源轨之一短路到GND时会发生什么。我们正在谈论的是由台式电源提供的12 V电源轨，以及一个单独的板载5 V降压转换器，该转换器为PCB上的另一个电源轨供电（我的ATmega328PB连接到该电源轨）。
12 V电源轨上有一堆DC桶形插孔，这些插孔将暴露给最终用户。因此，自然而然地，我决定将珠宝商的螺丝刀塞入其中的一个中，以进行短路测试。
瞧，我的ATmega328PB冒了点烟。
我认为这意味着发生以下事情之一：
示意图时间
这是与ATmega328PB的连接示意图：
以下是设计中所有与12 V电源轨（VBAT +电源轨）连接并控制GND电流返回路径的示意图：
这是桶形插孔和相关插孔检测引脚的示意图（请注意，这些引脚直接连接到ATmega328PB的某些引脚，没有串联电阻）：
短路计划
解决12 V电源轨上的短路的计划只是简单地关闭LOAD_FET N沟道FET，因为固件满足了以下两个逻辑条件之一：
- ADC以1 Hz的速率采样将检测过流情况，并使FET_LOAD开关停止导通，从而切断短路电流
- 为ATmega供电的电压将进入欠压状态，MCU将复位并将FET_LOAD开关初始化为“关”，从而切断短路电流
大烟
这是一个示波器探头，说明通过使用珠宝商的螺丝刀将Vbat +与GND短路到CH1上的Vbat +导轨（黄色）和CH2上的+5导轨（蓝色）时发生的情况（插入蓝色电缆），示波器探针。桶式千斤顶电路（我没有将螺丝起子插入插座中）由台式电源供电，该电源设置为12V @ 5 Amps：
在那之后，只要我给开发板加电，ATmega就会变得非常热，并且实际上是+ 5V输入和信号地之间的短路。我用热风对ATmega进行了拆焊，并测试了FET_LOAD N沟道FET是否被油炸。实际上，它已经失败了，以至于在将栅极电压施加到+5或信号地时，它不再完全关闭或打开，而是在两者之间的暮光区域中的某个地方工作。当在桶形插座中插入负载时，无论是“导通”还是“关断”，它在传导约200 mA电流时都会下降约2.3伏。
直觉
有一种预感，即由于FET被损坏，对ATmega造成损害的矢量可能是由高电压通过FET漏极传输到其栅极再到MCU所引起的。在较低的电压下为12V电源轨进行了一些后续测试。请注意，前三个图像基本相同，但峰值电流不同。一旦ATmega关闭（由于Vbat +轨上的电压崩溃），MCU提供的LOAD_GND_ENABLE信号（下面的蓝色）又变为低电平，从而切断了FET_LOAD开关。
传说：
CH1 = Rshunt两端的电压（0.005 ohm） CH2 = LOAD_GND_ENABLE信号上的电压（连接到ATmega）
以6V供电的Vbat +：
以7V供电的Vbat +：
以8V供电的Vbat +：
以9V供电的Vbat +：
在那最后一个上，电流永不停止增加，并且LOAD_GND_ENABLE信号进行了时髦的跳动，但总而言之，似乎从未在LOAD_GND_ENABLE引脚上突破最大限制（至少我不认为这是...我只有一个2通道示波器，必须测量+ 5V电压才能知道LOAD_GND_ENABLE wrt Vcc 上的电压。
下一步
我只剩下1个可以牺牲的木板，因此我的计划是：
使用空白的ATmega328PB，以便在未配置/初始化任何外设的情况下将其所有引脚默认为高阻抗。重复短路测试以查看ATmega328PB是否仍然冒烟。如果没有问题，则说明MCU必须失败，因为在先前测试中运行固件时，它从配置为输出的引脚之一中汲取/吸收了过多电流。
使用通过飞线连接到PCB的分线板上安装的ATmega328PB进行测试（不幸的是，该芯片未采用DIP封装）。有选择地开始一次连接一条飞线，进行测试，看看哪条飞线最终成为负责油炸ATmega328PB的那条。
订购具有更改布局的新样品PCB，以使连接至ATmega328PB的所有走线均通过可在我测试时手工焊接的焊桥连接。这样，可以在将ATmega一次连接到有限数量的信号的情况下进行短路测试（以及任何其他测试），并且可以轻松地将所有其他外部电路连接到这些焊桥，从而独立于ATmega进行控制。
是的，这确实是一个问题！
问题是：
- 有人在这里看到我没看到的东西吗？明显吗？我希望它不明显...
- 您下一步将是什么？