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我可以为基于AC的MCU项目使用什么单元测试框架?
我在考虑如何在我的mcu项目中使用单元测试,以及可以用来简化它的框架。 今天,我在Linux pc上使用带有OpenOCD-jtag的stm32,该文件全部由经典的Makefile控制并与gcc交叉编译。 我可以自己创建一些东西,但是如果有一个我可以使用的框架,那就太好了。(如果框架可以以Jenkins / Hudson可以读取的格式输出结果,那么这是一个好处。) 有没有办法使用带有stm32的单元测试框架?