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编译用于高放射性环境的应用程序
我们正在编译一个嵌入式C / C ++应用程序,该应用程序部署在受到电离辐射轰击的环境中的屏蔽设备中。我们正在使用GCC并为ARM进行交叉编译。部署后,我们的应用程序会生成一些错误数据,并且崩溃的次数比我们想要的要多。硬件是为此环境设计的,我们的应用程序已在该平台上运行了几年。 我们是否可以对代码进行更改,或者可以进行编译时改进以识别/纠正由单个事件引发的软错误和内存损坏?其他开发人员是否在减少软错误对长期运行的应用程序的有害影响方面取得了成功?
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c++
c
gcc
embedded
fault-tolerance