这是我可以显示的下限。我猜想对于固定的,右下限是Ω (log n ),但是自然地我可能是错误的。ϵΩ (对数n )
我将使用递减顺序(仅为方便起见)。基本机制是将序列分为个块。在我个块有将要Ñ 我元件(即,Σ 我Ñ 我 = Ñ)。大号一世ñ一世∑一世ñ一世= n
在下文中,我们希望算法以概率成功,对于一些参数δ > 0。≥ 1 - δδ> 0
第一下界:。Ω (1ϵ日志1个δ)
第个块具有n i = 2 i - 1个元素,因此L = lg n。我们将第i个块中所有元素的值设置为(1 + X i)/(2 n i L ),其中X i是0或1的变量。显然,该序列的总和为
α = L ∑ i = 1 1 + X一世ñ一世= 2i − 1L = lgñ一世(1+Xi)/(2niL)Xi01
想象一下,选择概率为β的每个Xi为1,否则为0。要估计α,我们需要可靠的β估计。在颗粒中,我们希望能够在基座区分β=1-4ε和,就是说,β=1。
α=∑i=1L1+Xi2niL=12+12L(∑i=1LXi).
Xiβ10αββ=1−4ϵβ=1
现在,假设对这些随机变量中的进行采样,并令Z 1,… ,Z m为采样变量。设置ÿ = Σ 中号我= 1(1 - X 我)(注意,我们正在采取的总和补充变量),我们有μ = è [ ÿ ] = (1 - β )米和切尔诺夫不平等告诉我们如果β = 1 - 4mZ1,…,ZmY=∑mi=1(1−Xi)μ=E[Y]=(1−β)m,则 μ = 4 ε 米,和失败的概率是
P [ ý ≤ 2 ε 米] = P [ ý ≤ (1 - 1 / 2 )μ ] ≤ EXP ( - μ (1 / 2 )2 / 2 ) = exp (− ϵ m / 2 )。
使这个数量小于β=1−4ϵμ=4ϵm
P[Y≤2ϵm]=P[Y≤(1−1/2)μ]≤exp(−μ(1/2)2/2)=exp(−ϵm/2).
,我们需要
米≥ 2δ。
m≥2ϵln1δ
关键的观察结果是,切尔诺夫不等式是紧密的(必须小心,因为它不适用于所有参数,但在这种情况下是正确的),因此您不能做得更好(不超过常数)。
第二下限:。Ω(logn/loglogn)
将第个块大小设置为n i = L i,其中L = Θ (log n / log log n )是块数。在一个元件我个块具有值α 我 = ( 1 /大号) / Ñ 我。因此,序列中值的总和为1。ini=LiL=Θ(logn/loglogn)iαi=(1/L)/ni1
现在,我们可以决定选择任意一块,说第一个,并在其块中设置的所有值是α Ĵ - 1 = 大号α Ĵ(而非α Ĵ)。这将第j个区块的贡献从1 / L增加到1,并将序列的总质量增加到(几乎)2。jαj−1=Lαjαjj1个 /L1个2
现在,非正式地,任何随机算法都必须检查每个块中的值。因此,它必须至少读取序列的值。大号
为了使上述论点更正式的,以概率,给出质量的原始序列1作为输入(我们称此为原始的输入)。否则,随机选择具有增加的值的块(修改后的输入)。显然,如果随机算法读取小于,比方说,大号/ 8项,它具有概率(大约)1 / 8,以检测一个修改的输入。这样,如果该算法读取少于L / 8项,则该算法失败的概率至少为
(1 - p )(7 /p = 1 / 21个L / 81 / 8L / 8
(1 - p )(7 / 8 )> 7 / 16 > 1 / 3
PS我认为,通过更仔细地考虑参数,可以将第一个下限提高到。Ω (1 / ϵ2)