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MIM(金属绝缘金属)和MOM(金属氧化物金属)电容器都是金属对金属电容器。
在MIM电容器中,金属板彼此堆叠,并被一层(薄)氧化硅隔开。通常,这种薄氧化物是在特殊的处理步骤中制成的,因为金属层之间的“普通”氧化物要厚得多(出于坚固性考虑),这将导致单位面积的电容大大降低。我已经看到,MIM盖每平方微米大约提供1-2个毫微微法拉。
大多数MIM电容器使用金属5作为底板,薄氧化层,然后使用“金属MIM”作为顶板,然后通过过孔将其连接到金属6,金属6将成为可用的顶板连接。不允许直接连接到“金属MIM”。
我还看到了“双重MIM”结构,在“金属MIM”的顶部有第二个薄氧化层,该层连接(通过金属6)到金属5底板。这几乎可以使MIM电容的密度增加一倍。
另一类型的电容器是边缘电容器,其仅使用一个金属层。该电容器依赖于边缘电容(侧电容)。顶视图如下所示:
MOM电容器由堆叠条纹电容器组成:
在我的经验中,这三个中的MIM电容在每个面积上的电容最高。
总结了以下金属电容器:
对于较大的上限,可以具有相当准确的值。公差可以是1%
电容与电压无关,也就是说,这些电容非常线性。
通常,您可以将这些电容放置在其他电路的顶部,因为它们仅是金属的。
他们可以占据很大的面积。
对于MIM盖(带有薄氧化物),通常会有特殊的设计规则来防止ESD和制造损坏。
其他电容器类型是非金属电容器:
MOS电容器:这些通常类似于PMOS,其中栅极是顶板,漏极/源极连接是底板。MOS电容器的值非常取决于所施加的直流电压!
基于二极管的电容器:这些电容器基本上是可变电容,因为它们的电容会随直流电压而变化。
这两个电容都是非线性的,因为它们的电容随施加的直流偏置电压而变化(与不受此影响的金属电容相反)。
如果您在合适的电压下对这些电容器进行直流偏置,它们的密度可能会高于MIM电容。对于本地电源去耦(DC电压始终保持恒定),尤其是MOS电容器非常有用。