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如何为信号增加受控量的抖动
背景 我正在开发数字时钟和数据恢复电路，现在进入评估阶段，重点是测试设计的极限并发现潜在的优点和缺点。此特定设计的一个重要指标是异步输入信号中的抖动容限。为了评估该指标，我考虑了以下测试设置。 模拟该电路 –使用CircuitLab创建的原理图 问题 为了确保测试结果有意义，希望抖动具有以下特征： 随机或伪随机 高斯分布 噪声的标准偏差已设置为参数，可以进行扫频（上面的抖动控制） 这似乎不是一件容易的事情。是否有相对简单的方法将受控数量的抖动注入测试设置？ 到目前为止我有什么 我给了它一些思考和研究，并且我有两种潜在的方法可以在硬件中实现。 如果测试电路的传输时钟明显高于DUT，则输出可能会过采样。然后，可以在输出中添加或删除额外的样本，以注入离散量的抖动。由于量化噪声，该抖动不会是完全高斯的。但是，如果测试电路对传输数据的过采样率足够高，则可以减轻这种担忧。 Kubicek等人的测试设置。（下图）使用带有可变衰减器的光传输来达到所需的效果。对于我来说，这为什么能达到上述目的一点也不明显，但是频谱分析仪应该能够确定它是否按预期工作。 我知道我的问题忽略了有关设计和测试设置的许多细节。这是有意的，因为我想尽可能保持概念性和一般性。我想避免这成为特定于设计的职位，而推荐创建一个具有永久参考价值的职位。