对于显微镜,我们经常测试相机。由于我的应用程序涉及的信噪比非常低,因此噪声中没有相关性和模式非常重要,因为局部相关才是真正将信号与背景区分开的。
为了测试噪声,我通常获取一系列〜100个暗帧,即没有外部光照射到摄像机的帧,通过时间平均确定固定的摄像机模式,然后从该序列中减去该帧。
通过观察每个像素随时间的标准偏差并查看生成的图像(例如,相机的不同行/列具有不同的噪声标准偏差),并逐行逐列地观察了噪声中的模式互相关(我在一些交错相机中注意到,噪声在每隔一行之间是相关的)。
这些测试中的第一个仅是定性的,第二个仅给我(相对)全局相关性。是否有更好(更快)的方法来确定相机噪声中是否存在任何相关性或动态模式?
暗框可用于在没有输入的情况下确定非均匀响应。但是似乎在这些测试中,您忽略了对实际输入的不均匀响应。您还不应该获得一系列均匀照明的框架吗?
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MSalters 2011年
自相关通常用于尝试在噪声中找到信号。可以沿着单个列/行或帧到帧(用于时变噪声)完成此操作。但是我怀疑这会比其他方案更简单。
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Daniel R Hicks