Questions tagged «troubleshooting»


6
降压转换器IC为什么会发生故障并爆炸?
我有一个已部署的设计,在该设计中,我们在PCB的12V至5V降压降压转换器部分中遇到了较高的故障率(〜4%)。降压转换器在电路中的作用是将12 V输入(从连接的铅酸电池)降压至5V,然后将其馈送到USB-A插座以进行电池充电。 所有返回的单元都具有相同的特性升压降压转换器IC。 该集成电路是德州仪器(TPS562200DDCT)的制造商(信誉卓著,所以我知道) 这是数据表。 这是发生故障的单元的图片: 这是原理图: 这是板子那部分的PCB设计文件: 在分析降压转换器IC的故障时,我认为您可以忽略低电池切断电路。当电池电压降至11 V以下时,该部分电路仅使用参考电压和低端旁通FET来将电池的负极端子与其余电路断开。 在我看来,连接到USB插座的设备上的外部短路不会成为罪魁祸首,因为TPS562200DDCT内置了过流保护: 7.3.4电流保护使用逐周期谷值检测控制电路可实现输出过电流限制(OCL)。在关断状态期间,通过测量低侧FET漏极至源极电压来监视开关电流。该电压与开关电流成正比。为了提高精度,对电压感应进行了温度补偿。在高端FET开关导通期间,开关电流以VIN,VOUT,导通时间和输出电感值确定的线性速率增加。在低端FET开关导通期间,该电流线性减小。开关电流的平均值为负载电流IOUT。如果监测到的电流高于OCL电平,则转换器将保持低端FET导通并延迟创建新的设置脉冲,即使电压反馈环路需要一个,直到当前级别变为OCL级别或更低。在随后的开关周期中,导通时间设置为固定值,并且以相同方式监视电流。如果过电流条件存在连续的开关周期,则将内部OCL阈值设置为较低的水平,从而减少可用的输出电流。当开关电流不高于下限OCL阈值时发生切换周期时,计数器将复位并且OCL阈值将返回较高值。这种过电流保护有一些重要的考虑因素。负载电流比过电流阈值高出峰峰值电感器纹波电流的一半。而且,当电流受到限制时,由于所需的负载电流可能高于转换器提供的电流,因此输出电压趋于下降。这可能会导致输出电压下降。当VFB电压降至UVP阈值电压以下时,UVP比较器检测到它。然后,该设备在UVP延迟时间(通常为14μs)后关闭,并在打ic时间(通常为12 ms)之后重新启动。 那么,有人知道这是怎么发生的吗? 编辑 这是参考设计的链接,我以前使用TI WEBENCH Designer提出了降压转换器的组件值和工作点:https ://webench.ti.com/appinfo/webench/scripts/SDP.cgi ? ID = F18605EF5763ECE7 编辑 我在实验室中进行了一些破坏性测试,可以确认如果我插入反极性的电池,我会得到看起来非常相似的熔融塑料堆,而Buck转换器曾经是。由于我们选择的电池连接器确实提供了较高的偶然反极性插件机会(例如4%几率->眨眼眨眼),因此这似乎是造成我们观察到的大多数故障的原因。

4
如何诊断面包板可能存在的问题?
我是一名EE教授,本周在我的数字实验室中,我的学生遇到了面包板问题(有点类似于这个问题)。将组件移到板上的其他区域时,组件似乎可以正常工作,并且我帮助进行了故障排除,因此我认为这不是学生错误的情况。 困扰面包板的问题是什么?如何诊断?像将每个板子从平台上拧下并检查端子排一样简单吗?我需要移除试纸吗?有没有我可以用来检查引脚的工具?

4
查找PCB上的短位置
我正在尝试在我的董事会上做空。到目前为止,我已经用我的福禄克来测量电阻以获得一些线索,但是我到处都测量到了4欧姆,所以这没有用。 我正在考虑尝试使用电源(电流受限制)将<2V推至高达几百mA,使它工作一分钟左右才能找到加热位置,但并不确定这样是否安全。这是唯一的方法吗?

2
眼图差,从哪里开始看?
我正在尝试调试100Mbit以太网板,并且遇到了无法解决的问题。 这是发射对的眼图。接收对非常相似。它是一个LAN8700 PHY,并且我已有效禁用MII接口,因此PHY正在传输IDLE码序列。根据数据表,它被强制为100Mbit / FDX。100Mbit / HDX是相同的。 纠正:设计使用的是LAN8700的内部1.8V电源为其VDD_CORE网络供电。在前面的描述中,我一定已经把1.8V逻辑电源与VDD_CORE电源混淆了。在我看来,电源噪声的可能性不大,因为高电平,零电平和低电平实际上相当不错。也就是说,眼睛不会被“压扁”。违反行为看起来都非常好,只是及时“偏斜”,这一事实使我认为问题出在PHY的晶体或晶体驱动器/ PLL的电源上。 如果我让眼图运行(大约15分钟),则遮罩中的违规将“填充”,以使您在图片中看到的白色违规在蓝色遮罩的右侧变为白色V形(>)形状。这将告诉我,时序误差或多或少是随机分布的,而不是某种使时序偏离精确量的离散噪声。 PHY使用的晶体具有30ppm的规格,这完全在100ppm 802.3规格之内,甚至在PHY指定的50ppm推荐规格之内。我使用的负载电容器与晶体所需的电容器相匹配,并且非常接近LAN8700指定的标称电容。 在禁用MII接口之前,我会看到成帧错误(如我的Linux的ifconfig程序所报告)。如果我将链接强制为10Mbit,则没有错误。 我注意到的一件很奇怪的事情是,如果我将示波器设置为触发从PHY到MAC的RX_ER(接收错误)信号,即使帧错误累积在MAC报告中,它也永远不会发出错误信号。现在,通过阅读PHY的数据表,很明显,实际上只有极少数情况下RX_ER会断言,但是我发现很难相信像我所看到的那样的眼图实际上是PHY与MAC。 我确实了解眼图的基础知识,但是我希望找一些更有经验的海报,希望他们能够分享他们在将特定的眼图模板违规转化为可能的来源方面的经验。 (编辑:添加了原理图,更正了VDD_CORE电源)

3
我如何测试电容器?
我刚刚通过更换三块坏掉的LCD屏幕上的电容器(到目前为止,还没有烧毁)-它们的逆变器电路上只有一个或两个电容器有点肿,并且没有泄漏。我最终更换了所有相同品牌/“颜色”的电容器,以防万一。 现在,检查坏的电阻很简单-我可以使用标准的万用表对其进行测试,并且我倾向于使用万用表的连续性测试选项来检查我的焊料。 我将如何测试电容器?有一些标准的,通用的测试方法吗?

4
如何在圣诞灯串中找到有故障的灯泡
已锁定。该问题及其答案被锁定,因为该问题是题外话,但具有历史意义。它目前不接受新的答案或互动。 我有一个LED圣诞灯串,它由两个串联的LED电路组成。它直接在110V AC上工作。大多数LED插座有2根连接线,有些有3根。琴弦的另一端有一个110V插座,因此可以将它们链接在一起。 字符串的一半变黑了,所以我认为该电路上的LED之一坏了,或者它的连接有问题。 LED不可拆卸(带透镜的模制塑料插座),我希望我能以某种方式跟踪灯串并找出故障所在。为了单独测试每个LED灯,显然不能在50个地方切割绝缘层。 如果有任何明智的方法来找到故障,或者购买一些设备或自己动手做一个DIY,或者由于一个坏了,我是否只需要更换100个LED灯串?
By using our site, you acknowledge that you have read and understand our Cookie Policy and Privacy Policy.
Licensed under cc by-sa 3.0 with attribution required.