Questions tagged «adc»

ADC是模数转换器。该设备将模拟信号转换为数字形式。数字电路主要使用它进行模拟测量。

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AVR：超频ADC
这是来自ATmega32数据表的报价： By default, the successive approximation circuitry requires an input clock frequency between 50kHz and 200kHz to get maximum resolution. If a lower resolution than 10 bits is needed, the input clock frequency to the ADC can be higher than 200kHz to get a higher sample rate. 我打算使用8位ADC。问题是：我能走到200kHz以上多少？我在数据表中找不到有关此的任何信息。是否可以使用64或32的预分频器，从而在uC以16MHz运行时分别以250kHz或500kHz运行ADC而没有转换错误？超出规范的ADC可能带来什么后果？
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这可以用作ADC输入设置吗？它很常见吗？
这行得通吗？从理论上讲，我很确定，但是我并不经常或根本看不到它。从理论上讲，从2：1到1：2的分压器应在电位计的一端提供3.3v的电压，而在另一端提供1.6v的电压，从而使ADC具有较宽的工作范围。如果按下按钮，则R1 + RV将充当最大20k上拉电阻，因此线路将降至0v，ADC可以被编码为唯一事件，从而允许按钮和电位计同时存在在同一输入引脚上，从而允许ADC兼顾这两个目的。 保存了输入引脚，没有任何重大的代码更改，因为已经轮询了ADC的电位器。 模拟此电路 –使用CircuitLab创建的原理图 出于好奇，这项工作是否可行？为什么不流行呢？
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这种方法会准确地测量电容并推断出间距吗？
在开始设置以下电容测量方法之前，我对任何反馈或警告均感兴趣。 为了进行实验，我遇到了需要测量和跟踪两个样本之间的间距（分辨率为0.1 mm或更高）的需求。由于其余设置的限制，经过一些研究，在我看来，电容测量方法最适合推断间距。 以以下简化为目标： 我想测量/跟踪本质上构成一个大电容器的2个铜板（每个2cm X 2cm）之间的距离。 注意： 下面的 AD7746是2通道，24位sigma-delta电容数字转换器 想法：从C=ε0ε[R一个dC=ε0ε[R一个dC=\varepsilon_0\varepsilon_r \frac{A}{d}在空气的电介质板面积恒定的情况下，测得的电容与距离成反比是当然的。因此，我首先要获取一些校准数据，然后使用该校准数据进行相应调整，以从任何测得的电容值推断出距离。 测量方法：考虑到我对0.1mm分辨率或更高要求的严格要求，我打算使用Analog Devices电容测量IC AD7746进行精确测量。 我应该注意哪些事情才能获得尽可能干净的测量结果，或者我可以改进哪些方面？上面的代码能否使我获得所需的分辨率，还是容易出现我没有看到的错误源？ 一个可能的改进是：我在想，由于AD7746具有两个通道，所以我什至可以使用额外的通道同时测量一对完全固定的 /基准板，并使用它来消除任何温度或EMI的影响。嗯，不确定这些因素有多重要... 更新（更多详细信息）：关于我的设置以及存在的限制的更多信息：实验涉及一个较大的样本，该样本位于上方，与顶板接吻。样品大约为75mm X 75mm（非金属），在垂直运动过程中会压碎顶板。 因此，没有空间放置与Y轴运动垂直平行的任何传感器。垂直位移/间隙的任何感测都必须水平完成，或者将零件安装在底板位置的板上。 话虽如此，只是为了我建议的测量方式添加了顶板，而并非绝对必要。我的主要目标是测量上述75mm X 75mm样品垂直于底部的距离。 更新（测量结果）：我对电容测量进行了快速测试，并且能够以大约0.2毫米的步长相当清楚地分辨出电容数据。到目前为止，我在电容测量中遇到的噪声太大，无法获得比该分辨率更好的分辨率。我试图改变一些东西，看看是否可以改善电容测量中的SNR。
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如何创建噪声预算以及之后如何处理？
在阅读本网站上的一些问题/答案时，我遇到了Scott Seidman的答案，我发现它很有趣。 因此，计算您的噪声预算，找出所需的位数，并做您需要的工作以获取它们。请记住，不断超过规格而不是满足规格的工程师在浪费时间和金钱。 如何创建噪声预算，当有一个或一个给定预算时，如何使用该预算确定所需的组件（运算放大器，ADC等）？ 例如，如果给定噪声预算，那么如何确定ADC需要多少位？ 编辑 原始链接比例式ADC，通过放大器分离参考电压和激励电压是否可行
8 adc  design  noise 
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为热敏电阻选择偏置电阻
Rt是热敏电阻。Rb是偏置电阻，我需要计算该值。我感兴趣的温度为的Rt电阻范围4k...115k。我想要将其缩放到整个ADC分辨率，即10bit 0...1023。因此，当Rt = RbADC将其转换为时511。不知道这是可能的，但我非常希望得到0ADC读数时，Rt = 4k和1023当Rt = 115k（或其他方式）。 在MC内部，我有一个查询表，它将根据热敏电阻数据表中描述的曲线将ADC值转换为温度。
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ADC输入保护
我正在使用ADC MCP3424。 断开ADC输入之一后，看到以下线程： ADC输入保护？ 我还阅读了Microchip应用笔记TB3013。特别是图3： ADC的模拟输入需要钳位在电源轨的±0.3V。 像BAT85这样的肖特基二极管的V f取决于流过它的电流。因此，对于V f <0.3V，我们需要一个10k的串联电阻，以保持电流小于1mA（假设运算放大器电源为+ 15V / -5V）。现在的问题是10k电阻会不会减慢采样电容器的充电时间并降低18位精度？我正在测量缓慢移动的直流电压。 这个问题有什么解决办法吗？
8 adc 
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使用ADC测量电线的电阻
我正在尝试设计一种电路，该电路可以测量低至0.1欧姆和最大的小电阻。10欧姆。我不会测量实际的电阻，而是测量最大500 m的大线圈线圈（您可以想象，这些导线很粗）。 这是我想出的电路： 该电路通过维持流过被测器件R2的恒定电流来工作。在100 mA的电流下，R2将产生10 mV至50 mV的电压。 我认为这在理想的世界中是可行的，但实际上我可能很难用它来测量0.1欧姆-主要是由于ADC。假设ADC为10位，VREF为5V。转换为每步5mV。如果R2 = 0.1且Iout = 100 mA，则ADC上的电压将为50 mV-但我不确定这将如何掩盖在噪声下。 我的问题是，是否应将增益增加到50。如果增益为50，则ADC上的电压将为500 mV-但最大值为50 mV。可测量的电阻为1欧姆。要测量10欧姆，我需要将电流降低到10 mA，而不是100 mA。一种方法是使用FET断开R1并在Iout处连接20欧姆电阻。 我不需要电路来精确测量电阻-+/- 10％的公差就可以了。
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如何实现模拟地平面
我已经在许多Atmel数据表中看到了这张图片。这是来自ATTiny48 / 88数据表。 有人可以详细解释如何在2层板上正确实现吗？我必须想象模拟接地层必须以某种方式连接到PCB上的数字接地层，还是在AVR内部发生？虚线是按字面意思理解为模拟接地平面的形状和范围吗（图中没有尺寸，所以我对此表示怀疑）？
8 avr  adc  analog  ground 
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缩小ADC的输入信号
我希望对0至+15 V模拟输入信号进行采样，它不是正弦波，而是脉冲驱动的。我不需要高采样率（<1kHz），但是我需要在整个信号范围内采样。我看到的方式有两种选择： 购买更昂贵的+/- 10 V范围的ADC，并尝试使输入偏置以适应该摆幅。虽然我认为这将需要两个电压电源。我可能是错的... 衰减输入信号，使信号摆幅适合普通的低成本ADC的范围 尽管2）在设计上似乎更加困难，但根据我从Analog and Linear产品中看到的情况，它当然似乎具有更好的成本优势。 通过衰减信号，我是否会冒任何损失的危险？我当时在想，如果ADC具有与较大摆幅ADC相同的采样位宽，则可以在软件中对采样进行数字缩放，以使初始信号电压得到采样。
8 adc 
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自动测距仪设计
我正在设计一个自动量程电压表，它使用了我的微型板载ADC从A到D，以及一个数字电位计作为可编程电阻分压器来控制量程。 我担心的是，在微控制器将电位器调整到适当范围之前，ADC输入可能会短暂地短路到测量的输入电压。 在这种情况下通常如何实施过压保护？ 另外，如果有用于数字万用表设计的资源（例如，原理图等），这对创意也非常有用（因为我敢肯定有比我的方法更好的方法），我已经搜索了但没有发现太多。 更新资料 感谢大家提供的有益答案。这是Iv决定的过压保护电路。我计划使用肖特基二极管来提高精度。 在负电压瞬变期间，底部二极管将导通，从而将电压钳位到接地以下的一个二极管压降。在正电压瞬变期间，顶部二极管将被正向偏置，从而将电涌传导至电源轨。 来自：http : //www.conformity.com/artman/publish/printer_116.shtml
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