Questions tagged «crystal»

压电器件以特定的谐振频率切割,主要用于振荡器。

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为什么将晶体电容器视为串联的?
我正在尝试为MCU的时钟选择一个晶体和电容器,据我了解,我的晶体需要30pF的负载电容(数据手册中已指定)才能正常工作。我这样做的方式是: 模拟该电路 –使用CircuitLab创建的原理图 但是,每个人都告诉我我应该这样做: 模拟该电路 因为电容器以某种方式是串联的。这对我来说意义非零:我要再使用一个电容器,而右侧的电容器紧邻逆变器的低阻抗输出,因此我只是看不到它串联。另外,我的设计使用的电容器少了一个。我想念什么?

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ARM MCU如何比外部晶振运行得更快?
因此,在此之前,我只使用简单的8位Atmel MCU,并在开发板原理图中意识到它只有12Mhz的晶体,但MCU的工作频率高达100MHz。(我认为默认值是80MHz。我只是为了娱乐而将其提高了一次。这只是代码中的一条简单代码。) 它是如何做到的?例如,为什么Atmega328以所使用的晶振速度运行?
12 arm  crystal  cortex-m 

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石英晶体的谐振频率随大气压变化吗?
我们有一个裸露的石英晶体,并且正在以非常高的精度(1 ppb)测量其共振频率。当它在大气压和真空之间循环时,似乎出现了频率变化。可能是因为晶体被压缩了吗?如果是这样,如何计算频率变化? 在温度受控的环境中,意外变化约为400 ppb
12 crystal 

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该无线电发射器电路如何振荡?
你好。我试图了解该电路的工作方式。我了解电路在晶体管右侧的工作原理,但晶体的振荡级使我感到困惑。晶体似乎没有来自振荡器输出的反馈。我对此进行了研究,发现晶体管的集电极-基极电容提供了反馈路径,但难道不是仅给出90°相移而不是正反馈所需的180°相移?我见过类似的电路,其中晶体中包含一个可变电容器来调节频率。剩下的90°会产生相移吗?谢谢,感谢您的帮助。
12 rf  oscillator  crystal 

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鉴于内部振荡器要快得多,何时应该为该MCU使用外部晶振?
我正在看这个MCU,想知道使用外部晶振是否有意义。 从数据表pg1中提取, *时钟管理 – 4至32 MHz晶体振荡器 –用于校准的RTC的32 kHz振荡器–带x6 PLL选项的内部8 MHz RC –内部40 kHz RC振荡器 – 内部48 MHz振荡器,基于ext自动调整。同步* 内部振荡器可以高达48Mhz。外部晶体在4-32 Mhz之间。考虑到外部晶振成本高且占用空间,为什么内部晶振快于48Mhz的人会使用外部晶振?什么时候应该使用外部晶体?


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如何在板上测试晶体谐振器?
我的PCB板上有2个石英晶体谐振器:32.768 kHz和20 MHz。它们连接至飞思卡尔MC12311收发器IC,后者内嵌有HCS08微控制器。我想测试这些晶体是否正常工作。 可用工具:示波器,频率计(数字计数器),数字万用表。 我应该如何使用这些工具来测试板上的晶体? 注意:应该考虑探头的电容性负载效应。否则,测量结果将不准确,甚至更糟,晶体将根本无法工作。 Edit1:我同时使用了示波器和频率计(带有x10探头),但是不幸的是根本没有监控任何东西。

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如何在振荡器中使用石英晶体?
如何获得石英晶体以在4.096MHz下产生方波?到目前为止,我拥有4.096MHz石英晶体,并且看到了以下示意图: 在哪里可以找到具有单个输入的放大器,我应该使用什么电压?

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糟糕:屏蔽电感器非常靠近晶体。问题?
我的设计可以很好地在我手工组装的两块板上工作,但是来自本地装配厂的板有一半以上是不良的。 我已将最常见的故障模式追溯到从处理器到以太网PHY的不稳定参考时钟。我猜在某些情况下PLL无法正确锁定。 我发现的唯一事情(可能是一件大事)是,为了缩小面积,我最终以某种方式最终使用了24MHz的系统时钟晶体(该晶体被馈送到PLL以作为以太网参考时钟) )-非常靠近DC / DC转换器的屏蔽电感器。屏蔽电感与晶体成45度角,但一个角位于晶体侧面20密耳之内!哎呀 现在,我已经可以将这个晶体移到约160密耳的距离,这是我不做任何严重返工就可以做的最好的事情。我已经在处理器的布局笔记中看到一个布局示例,该示例似乎显示晶体距离电感器约100密耳(DC / DC集成在此处理器封装中),所以我认为这是可以的。评估板将它们分开约250密耳,但是看起来距离并不是该设计的重要因素(尽管可能是这样)。看起来这两个组件都很方便。 目前我最关心的是...我是否解决了这个问题?来自屏蔽电感器的20 mil晶体可能会引起问题吗?奇怪的是,到目前为止,我有6块板表现良好,而大约5块板具有此参考时钟PLL问题。我不确定为什么不是所有的电路板,除非这是各个公差的总和。 我可能在这里遇到更大的信号完整性问题……但是,处理器布局(DDR2内存)中要求更高的部分似乎表现良好。那里或其他任何地方都没有委员会显示出任何问题的迹象。 我遇到麻烦的最可能原因是当地的装配车间。我对我从董事会获得的信任度非常低。我发现了很多错误。自从更换晶体以来,一个板就一直在工作...我没有看到示波器的任何振荡,但是在显微镜下,它肯定似乎具有连通性。但是,更换晶体对其他任何板子都无济于事。 我只是希望我在下一个董事会修订版中遇到一个具体的固定问题,而不是一堆“现在可能会起作用” ... 这是前后的图片(Y上的晶体比其足迹小一些):
12 inductor  crystal 


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选择32 kHz晶振的负载电容值
在我正在研究的设计中,我需要一些帮助来选择32.768 kHz XTAL的负载电容器。 这有点长,但是主要的问题是:正确确定负载上限值是否至关重要,以及走线和引线的寄生电容在确定这一点上有多重要。 我的设备使用TI CC1111 SoC,并且基于TI提供的USB加密狗的参考设计。CC1111需要48 MHz高速(HS)振荡器和32 kHz低速(LS)振荡器。参考设计将晶体用于HS振荡器,并将内部RC电路用于LS振荡器。但是,CC11111可以连接到32.768 kHz的晶体振荡器,以获得更高的精度,这是我所需要的。 CC1111 数据手册提供了一个公式(第36页),用于选择负载电容器的值。为了进行完整性检查,我使用该公式来计算参考设计中与48 MHz xtal一起使用的电容值。我认为我应该得到与设计中实际使用的大致相同的数字。但是我得出的电容值与TI使用的电容值不匹配,因此我有点担心。 我的侦查细节如下,但总而言之,48 MHz晶振的数据表说它需要18pF的负载电容。参考设计中使用的两个负载电容器均为22 pF。CC1111数据表中的公式将xtal引线上的负载电容与负载电容器(和C b)的值相关联CaCaC_aCbCbC_b Cload=11Ca+1Cb+CparasiticCload=11Ca+1Cb+CparasiticC_{load} = \frac{1}{\frac{1}{C_a} + \frac{1}{C_b}} + C_{parasitic} CloadCloadC_{load}CaCaC_aCbCbC_bCparasiticCparasiticC_{parasitic}CaCaC_aCbCbC_b 或者,根据TI应用笔记AN100, Cload=C′1×C′2C′1+C′2,Cload=C1′×C2′C1′+C2′,C_{load} = \frac{C_1' \times C_2'}{C_1' + C_2'}, C′xCx′C_x'CxCxC_x C1C1C_1C2C2C_2C′1C1′C_1' 我之所以这么问,是因为担心如果我选择了错误的负载电容器值,它将无法正常工作,或者频率将是错误的。这些类型的晶体对加载上限值有多敏感? 我的侦查细节: 从参考设计zip文件中包含的Partlist.rep(BOM)中,晶体(X2)和与其连接的两个负载电容器(C203,C214)为: X2 Crystal, ceramic SMD 4x2.5mX_48.000/20/35/20/18 C203 Capacitor 0402 C_22P_0402_NP0_J_50 C214 Capacitor …

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PIC不断重置:我是否看到面包板使用带来的副作用?
我正在使用PIC18F4680,在以HSPLL模式在40 MHz外部时钟源或10 MHz晶振上运行时遇到问题。在HS模式下使用10 MHz晶振似乎还可以,在HSPLL模式下使用5 MHz晶振也可以。 发生的情况是,PIC启动,工作了几秒钟,然后关闭了一段时间,然后再次启动。该周期的总时间约为5秒,其中PIC会在第二秒的早期停止工作。 我还注意到,有时当我在面包板的电源总线上添加足够大的放电电容器时,PIC会正常工作。有趣的是,只有在PIC已经运行的情况下添加电容器时,才会发生这种情况。如果我在那里用面包板为面包板供电,或者我将电容器没有完全放电,问题仍然存在。 我在一些站点上读到,由于PIC在更高频率和最低最低工作电压下的功耗增加,可能会发生与我类似的问题。在这些情况下,如果电源上存在一些短电压降,则它们很可能在该频率上达到PIC的最低工作电压,因此,最好在面包板上增加电容器以解决该问题。由于在40 MHz的满负载下,整个电路使用大约64 mA的电流,所以我的第一个想法是放置大约钽电容器,希望它们足够大并且具有足够低的ESR以解决问题。 。一个没有帮助,第二个也没有帮助。因此,我添加了一个铝质电容器,但这也没有帮助。100 μ ˚F10 μ ˚F 10 μF10 \mbox{ } \mu F 100 μ ˚F 100 μF100 \mbox{ } \mu F470 μ ˚F 470 μF 470 \mbox{ } \mu F铝电容器无效。最后,我添加了一个1 mF的铝电解电容器,然后第一次电路工作正常,直到关闭并打开电源。我还应注意,出于测试目的,我使用5.5 V的Vcc,这是该微控制器的最高额定电压。这应该给我留出一些空间,直到4.2 V(40 MHz的最低工作电压)为止。 接下来,我读到有时浮空的输出可能会引起毛刺,因此我在所有未使用的引脚上放置了下拉电阻,但这两个都没有帮助。之后,我已经读到,有时如果振荡器输入悬空,则可能会出现问题,因此我尝试使用大约电阻将它们连接至GND ,但这没有帮助。10 中号Ω10 k 欧姆 10 kΩ10 …

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我的晶体振荡器布局如何?
HC-49 xtal是8 MHz晶体,径向晶体是RTC 32.768 kHz晶体。C11,C12为22pF,C13,C14为18pF。 迹线直接进入微控制器(PIC24F)。 我尝试遵循Microchip的指南,但他们建议使用表面贴装xtal,并谈论了与我无关的“保护环”。

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为什么这个晶体振荡器有一个窗口?
我刚刚碰到了这个设备,我想不出任何理由拥有它的窗口。 这也不只是切开的显示图像;数据表中特别提到,应避免在其下粘胶,以免玻璃破裂: 那么,此窗口的目的是什么?当然,这会增加制造成本,所以没有良好的目的就不会存在,对吧? 我也看不到它是用于修整的,因为看起来完全相同的零件也在没有窗口的不同包装中提供。
10 crystal  packages 

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是否有耐高压的晶体?
是否有耐高压的晶体? 还是他们的案子都有开放空间? 客户希望在浸入高压油的潜水艇中使用我们的产品。 我以维基百科的这篇文章为基础,并阅读了美国海军的参考资料,认为使用SMD晶体会没事的。 相反,在压力下,晶体外壳顶部破裂。 (高压油浸试验后内爆SMD晶体的照片。) 显然,那里有一个气袋。 有人建议我们用环氧树脂灌封晶体。但是我怀疑这是否行得通:压力使SMD晶体的陶瓷体破裂;我怀疑环氧树脂能否承受陶瓷所不能承受的。 (一个拥有300个声望点的善良的灵魂可以创建“高压”标签并将其添加到此帖子中吗?)

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