STM32 ADC噪声2
我刚刚用STM32F2测试了我的第二个设计，现在是STM32F207ZFT6，ADC的性能与我的第一个应用程序相同-ADC中的强噪声。 未连接任何信号的电流输入噪声： 注意：在上面的信号图中，垂直轴是ADC位而不是伏特！不要被它的图例“ [V]”所迷惑，在本测试中，我们使用经过修改的程序来查看粗略的ADC数据。 即使CPU模拟引脚短路到GND，也会出现相同的噪声，如下所示： 我认为，采样信号中存在超过30 LSB的永久性峰值，甚至更多，尽管它们不应超过5-10 LSB。 另一个细节： 2面PCB，在底面上还有其他连接，但大多数连接是GND信号-数字和模拟通用，模拟地没有分开。由于电路板的功耗极小，低于100 mA，因此我认为它不会引起此类噪声。 参考电压VREF 3.3V由运算放大器缓冲，被100nF和钽电容并联10uF阻断，与VREF / 2相同；每个处理器电源引脚均被100nF电容阻塞 在我们较旧的应用程序中，我们使用了相同的设计概念，但是所使用的处理器是AduC834。它也有12位ADC，信号噪声只有几个LSB，没有问题。主要区别在于使用了AduC的内部参考电压，没有外部参考电压 我们已经测试过将处理器模拟接地引脚与板的公共GND断开连接，并用额外的导线将其直接连接到参考电压VREF接地，没有影响 它是三相网络测量设备，有3个模拟电压通道和3个电流通道，带有可切换的增益前置放大器。CPU振荡器为25 MHz，内部时钟为PLL的120 MHz，ADC时钟为30 MHz（符合技术规格），我们已经测试过将主内部时钟（因此也包括所有辅助时钟）降低到四分之一，但没有任何影响 ADC周期性地采样输入信号，每50 Hz网络周期进行128次转换，即每156微秒。结果通过DMA传输到内部RAM中；来自RAM的数据通过绝缘的RS485（在另一块板上）传输，并在我们的程序中可视化。我们试图将转换时间延长到最大，但没有效果 除CPU外，只有3个opam，2个模拟开关，I2C温度计和3个ULN开关（测试期间未使用），由线性LF33稳定器供电，通常由另一块板上的开关提供的5V DC供电，但是在测试过程中，开关为断开连接，LF33由清晰的实验室5V直流电源供电。我敢肯定，除了处理器振荡器以外，其他都无法在板上振荡。 用示波器检查信号没有决定性的结果，信号太弱 有这个处理器系列ADC性能经验的人吗？ 关于信号强度：即使模拟输入短路，在示波器上我也会看到5-10 mV（峰对峰）的噪声-用同轴电缆测得，该接地电缆的最小接地线焊接到板上。使用标准探头时，噪声可能大约是接地不良的两倍（一般的EMC噪声？）。 这是我的董事会的形象： 和董事会的底部： 如上所述，即使信号接地，ADC转换后的数据中仍然存在约30 LSB的噪声。