Questions tagged «via»

在PCB中,过孔是允许各层之间电连接的电镀孔。这是该站点上该术语的更常用用法。在集成电路中,通孔是绝缘氧化物层中的一个小开口,可以在不同层之间进行导电连接。

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测试点:过孔与焊盘
几天前,我在修理一个超便宜的家用路由器,发现它的通孔标记为TP_12V,TP_3V3,TP_GND和类似的通孔。问题原来是降压转换器中的电解电容漏电,而过孔确实有助于调试,但这不是这个问题的重点。 我真正想问的是,总的来说,为什么没有使用过孔作为测试点有什么理由?我以前见过的所有测试点都是裸露的铜垫,这很有用,但使用起来有点困难,因为我需要将示波器探头连接到平坦的表面。这里的通孔直径恰好可以将标准万用表或示波器探头的尖端固定到位,而无需任何外部工具。 我怀疑通孔会比普通的铜测试点贵一点(但是,再次发现,它的价格低于15美元),而且它们的耐用性不如简单的焊盘。 我怀疑用于生产测试的指甲床设备需要更精确才能使其正常工作,但是我不知道这会有多大的问题。 那么,我是否错过了使用铜焊盘代替通孔作为测试点的任何理由?
30 test  via  pads  testing 

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通孔直接在SMD焊盘上?
我在看TI提供的示例电路板示意图时,发现有点奇怪:通孔直接放在SMD焊盘上。这是正常/可以接受的做法吗?还是建议/最好先进行简短的跟踪,然后再提供一个过孔?

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优化散热器设计-通过过孔在PCB背面连接冷却垫
在我当前的项目之一中,我使用D2PAK封装中的MC7805从可用的24 VDC电源生成5 V的逻辑电源。电路所需的电流为250 mA。这导致MC7805的功耗为: P= (24 伏 − 5 伏 )* 230 m A = 4.37 瓦 P=(24 V−5 V)∗230 mA=4.37 WP=(24\ V-5\ V)*230\ mA=4.37\ W 必须将PCB组装到带有MC7805的小塑料外壳中。安排是这样的: 因此,像这样的散热器是不可能的。此外,外壳本身的体积很小,并且会发热。 解决该散热问题的第一步是在焊盘上增加通孔,并在PCB的另一侧制作裸露的焊盘。这样,我想消散外壳外部的热量。显然,这还不够好,因为大约一分钟后MC7805的热过载保护装置开始起作用。 因此,我在PCB背面的裸露焊盘上添加了一个小的散热器,现在看来它可以正常工作(散热器仍然很热!)。 除了我的反复试验方法之外,我还想更好地了解这种热设计并对其进行优化(到目前为止,我无法说出结点的温度是多少,因此我不知道这种方法的可靠性如何。 )。 我已经读过其他几个问题,但到目前为止,我仍然不太清楚(甚至将功率视为电流,将温度视为电压,将电阻视为热阻,热设计始终使我感到困惑...) 因此,对于这种设计,我会有两个问题: 使用过孔时,过孔的镀层会传导热量,而过孔中的空气或多或少会被隔离。因此,如果未填充焊料,则需要最大化通孔的铜面积,以最小化上下层的热阻。当我保持阻焊层保持打开状态时,应在通孔上覆盖焊锡膏,并在回流焊接时进行填充。为了使顶层和底层之间的热阻最小,我认为最好具有尽可能大的“孔”面积。这个假设正确吗? 有没有一种“令人难以置信的复杂”方式来计算结与底焊盘之间的热阻? 如果没有,我可以以某种方式测量此热阻(使用温度传感器吗? 由于顶垫和D2PAK外壳也会散发一些热量。我可以(按照电阻的类比)将它们并联吗?该系统的热敏电阻网络如何? 我想进一步优化该散热设计。 我无法增加外壳和PCB的尺寸。 我无法添加粉丝。 我无法增加顶层垫的尺寸。 我已经将底垫的尺寸增加到最大可能的20 mm x 20 mm(上图提到两个垫均为15 mm x 15 …
25 heatsink  thermal  via  7805 

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形/边缘镀膜的PCB:关于机械/电气接触可靠性的评论
(这是此相关问题的后续)。 我对人们使用Castellated PCBs的设计结果/经验所提供的一些反馈感兴趣,这是一种将一个PCB附着到另一个PCB的方法。通过Castellations,我当然指的是“半通孔”或“边缘电镀”,如下所示(两个图像均来自Stack): 这似乎是一个很好的解决方案,并且似乎是相当流行的外形,尤其是在RF模块中。 但我担心(并希望对此发表评论): 机械接触的坚固程度 电接触的可靠性 哪些设计方法/因素可能会影响连接质量 例如,@ Rocketmagnet在前面的相关问题中描述的一种布局方法是将通孔放置在尺寸轮廓上,因此半钻孔充当可焊接的cast形。这是一种标准/可接受的方法,还是设计人员应实际联系PCB制造商并定制专门要求加城堡形的电路板? 如下图所示,采用半尺寸镀通孔方法(来自此人的博客)的结果并不令人印象深刻(该页面的作者认为不良的铣削负责)。

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您可以在QFN封装内放置过孔吗?
我正在设计一个包含0.4mm间距QFN芯片的非常密集的PCB。在某些方面,它很难散开。由于某些原因,所有QFN都具有巨大的散热垫,这使工作变得更加困难。 在焊盘和导热垫之间放置0.45mm OD,0.2mm ID的微小过孔是否合理? 我想不出为什么没有理由:它们被阻焊剂覆盖,并且尺寸和间隙在我们PCB车间的规格之内。但是我认为我以前从未见过有人这样做。 加 我只想为对这些小过孔感兴趣的人添加一些照片。这是我们最近制作的董事会中的两个。一些演习在进行中,而有些则在微弱中进行。
20 pcb  layout  via  footprint 

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标准通孔尺寸?
是否有用于过孔尺寸的标准,或者您可以将它们设置为所需的任何尺寸? (我将使用传统的PCB外壳来制造我的PCB。)


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您是否应该通过通孔以直角放置走线?
我了解应避免使用直角PCB走线,因为它可能在制造过程中引起问题。 但是通过通孔成直角呢?这会产生负面影响吗? 我有一个多层板,但没有那么多空间。我碰到了一个点,我唯一可以放置通孔的地方就是我要连接的焊盘旁边,而我的走线来自正上方。
18 pcb  via 

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通孔如何商业化制造?
通孔是如何制造的? Wikipedia(http://en.wikipedia.org/wiki/Via_ ( electronics))提到“该孔通过电镀使其具有导电性,或者衬有管子或铆钉” 任何人都可以提供有关这些流程的更多详细信息,以期复制该流程吗?(我意识到标准的DIY方法是将一些单芯线穿过并焊接。这似乎相对较慢并且不适合自动化)。
17 pcb  manufacturing  via 

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USB信号路由-使用通孔交换数据线?
我正在做第二个USB设计,但是MCU(atemga16u2)上的D + / D-引脚与micro B连接器的顺序不正确。正确路由这些路由的最佳实践是什么?我当前的想法是将atmega旋转180度并在下面布线,但感觉到轨迹很长。 我也可以将其中一根线放到另一根线下,但是我敢肯定,这会弄乱差分对的长度。 该设备不会超过全速运行,因此我可以通过不够完美的路由来摆脱困境。

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BGA是否通过0.8mm间距的尺寸逃逸?
是否有任何类型的标准或通用实践尺寸定义了0.8mm间距的BGA逃逸通孔和布线迹线/空间的外观?如果没有,最经济的尺寸集是什么? 我在网上搜索时发现的一些文档讨论了顶层和底层而不是内层的过孔和布线尺寸。据我了解,内层需要防垫,这使它们比外层更具限制性。因此,这些应该是驱动因素,但我在此方面找不到太多。 我找到了BGA / PCB互连设计指南文档,该指南讨论了0.8mm的间距(搜索“ 0.8-mm”)。它说,当孔/防垫为10/28密耳时,飞机上仅剩下3.5密耳,这不好。继续说,使用8/26作为孔/防焊盘仍然仅留下550密耳,因此您应该只使用微孔。 但是,我看到一些制造商提供8密耳的内部间隙(防焊垫?),那么您是否不能在24密耳的防焊垫上使用8密耳的孔,并留有足够的接地层铜? 我找到了这份NXP文档:BGA封装中的NXP MCU的PCB布局指南。它有一个很好但是很混乱的表。它显示了一般的标准孔尺寸,如您从PCB制造商处看到的(1200万,800万毫米,以毫米为单位),这是钻头尺寸,而最终尺寸太小了。特别是要以1mm的间距钻出的垫块的尺寸完全是正常的12/21通孔,但“完成的尺寸”为700万!我的理解是PCB制造商是根据成品孔的尺寸而不是钻头的尺寸进行操作。怎么了 (或根据我的理解?)

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如何根据走线宽度选择通孔直径和钻头尺寸
我正在设计一个两层板,问题是我不知道如何选择通孔直径和钻孔尺寸以及外径和内径。 在我的电路中,我使用056、012和006 mil迹线: 我已经问过制造商,他们说他们可以制作小至100万的过孔。 所以我的问题是,我应该选择外径,内径和钻头尺寸吗?例如,可以使用1000万密耳的钻头进行6轧制跟踪吗?对于56和12百万首曲目应该是什么? 另外,当我制造电路板时,绿色圆柱体将是什么样子? 我真的缺钱,我付不起错误。

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使用过孔加强焊盘上或焊盘附近的表面安装连接器
我正在尝试设计一个具有表面安装连接器的电路板。展示了一个示例板的图片,该示例板的连接器焊盘上具有通孔。我不认为通孔一定是用于连接层的。意思是告诉我,它们是用来加强连接器附近的机械结构的,因此,在拉动和推入插头时,将很难拉出。 有人听说过吗?我相信我听说过将插入式通孔放在机械垫的旁边,以使那里的板更坚固。但是我不确定将过孔放在焊盘上的含义是什么?我一直在网上搜索,但找不到很多。也许我只是不知道此应用程序的正确术语。 那么是否有增加表面安装连接器强度的标准?除了费用之外,将过孔放在焊盘上是好还是坏的做法?将过孔直接放在焊盘旁边有帮助吗?

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为什么通过PCB反射会像这样?
我的问题与http://mobius-semiconductor.com/whitepapers/ISSCC_2003_SerialBackplaneTXVRs.pdf有关。 在第18页上,有几张“ TDR偏离过孔的不同类型”。对于不同通孔下的电容,归纳和LCL标题,我感到困惑。对于为什么图形看起来如此的解释是什么?图形下标题的含义是什么?我不确定为什么一个是电容性的,另一个是电感性的,另一个是拼箱。我也不确定盲孔和埋头镗孔是什么意思。 我确实对传输线和匹配阻抗有所了解,但是我以前从未遇到过此类图形和过孔反射。

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IC电源引脚连接,用于抗干扰和去耦
关于如何将去耦电容器连接至IC的其他问答环节,人们进行了很多讨论,得出了两种完全相反的方法来解决该问题: (a)去耦电容器应尽可能靠近IC电源引脚放置。 (b)将IC电源引脚连接到尽可能靠近电源平面的位置,然后将去耦电容放置在尽可能靠近的位置,但要注意过孔。 根据[ Kraig Mitzner ],对于模拟IC,选项(a)更可取。我看到了其背后的逻辑,因为通孔的电感和去耦电容器形成了一个低通LC滤波器,可将噪声远离IC引脚。但是根据[ Todd H. Hubbing ],选项(a): 在您应用一些实际数字并评估折衷方案之前,[...]听起来是个好主意。通常,任何增加电感(而不增加损耗)的方法都是一个坏主意。有源设备的电源和接地引脚通常应直接连接到电源层。 至于选项(b),[ 克雷格·米茨纳(Kraig Mitzner)(上图的作者)说,这对于数字电路来说是更可取的,但是他没有解释原因。我知道在选项(b)中,感应环路应保持尽可能的小。但是它们仍然允许IC的开关噪声很容易地进入电源层,这是我要避免的。 这些建议正确吗?他们基于什么确切的推理? 编辑:考虑到IC的过孔通向电容器,过孔应保持尽可能短。它们在图中显示为长迹线,仅用于说明目的。

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